形態・形状観察

走査型プローブ顕/SPM（原子間力顕微鏡/AFM）

メーカー・型番	日本電子(株)　JSPM-5200S
仕様・用途	ナノファイバーの形状や複合材料中のナノファイバー分散状態の解析 装置の写真

原子間力顕微鏡（AFM）

メーカー・型番	オックスフォード・インストゥルメンツ(株)　MFP-3D Origin
仕様・用途	ナノファイバーの形状や複合材料中のナノファイバー分散状態の解析 装置の写真

※超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM+EDS）

メーカー・型番	(株)日立ハイテク　SU9000
仕様・用途	ナノファイバーの形状や複合材料中のナノファイバーの状態解析 ・コールドFE電子銃 ・STEM機能 ・実表示倍率：～8,000,000倍 ・サイドエントリー方式 ・ウインドレス高感度EDS付属［Oxford Ultim Extreme 100m2］ 装置の写真

電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）

メーカー・型番	(株)日立ハイテク　S-4800
仕様・用途	ナノファイバーの形状や複合材料中のナノファイバーの状態解析 ・コールドFE電子銃 ・STEM機能 ・EDS付属（EDAX Octane Elect Super Si3N4ウインドウ70mm2） 装置の写真

卓上走査電子顕微鏡（SEM）

メーカー・型番	(株)日立ハイテク　TM-3000
仕様・用途	ナノファイバー原料のパルプや木粉の形状評価 装置の写真

オスミウムコーター

メーカー・型番	メイワフォーシス(株)　Neoc-Pro
仕様・用途	セルロースナノファイバー等のFE-SEM観察のための導電性スパッタ処理 ※セルロースナノファイバーの高分解能SEM観察では必須 装置の写真

蛍光顕微鏡

メーカー・型番	(株)キーエンス　BZ-9000
仕様・用途	木質成分の分布状態解析 装置の写真

デジタルマイクロスコープ

メーカー・型番	(株)キーエンス　VHX-6000
仕様・用途	木粉等の形状評価、サイズ分布解析 装置の写真

偏光顕微鏡（透過）

メーカー・型番	オリンパス(株)　BX50
仕様・用途	ポリマーの結晶状態、セルロースナノファイバーの分散状態評価 ※ホットステージ（メトラートレド社FP90）付属 装置の写真

偏光顕微鏡（透過・反射）

メーカー・型番	メイジテクノ(株)　MT9930
仕様・用途	ポリマーの結晶状態、セルロースナノファイバーの分散状態評価 装置の写真

ウルトラミクロトーム（クライオステージ付き）

メーカー・型番	ライカマイクロシステムズ(株)　Leica EM UC7
仕様・用途	木質・樹脂・ゴム等からの顕微鏡観察のための薄片サンプル作製 装置の写真

滑走式ミクロトーム（凍結ステージ付き）

メーカー・型番	大和光機工業(株)　REM-700
仕様・用途	木質等からの顕微鏡観察のための薄片サンプル作製 装置の写真

SEM用 t-ブタノール試料乾燥装置

メーカー・型番	(株)真空デバイス　VFD-21S
仕様・用途	走査型電子顕微鏡（SEM）用乾燥試料の作製。SEM試料台をそのまま設置可能。 ※ペルチェ式冷却機構，減圧機構 装置の写真

※ダイヤモンドワイヤーソー

メーカー・型番	メイワホーシス(株)　DWS3500P
仕様・用途	樹脂等成形品・形成体の内部構造、積層体の断面構造、異物部分の切り出しにより、走査型電子顕微鏡等で形状や構造を観察するためもちいる。成形体を変形や崩壊させることなく軽い力で精密に切断する。金属や鉱物の切断も可能。マイクロスコープによりワイヤー位置を確認しながら切断可能。 装置の写真