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ナノ材料計測研究グループでは、省エネルギー・脱炭素社会や安心・安全な社会の実現に資する高付加価値な材料・デバイス開発等に貢献するために、多様なプローブ(X線、電子線、陽電子、光等）を駆使して、ナノ構造・機能性材料の内部、表面・界面の状態を高感度・高時空間分解能で計測・分析する技術の開発とその成果の普及に取り組んでいます。また、ナノ構造・機能性材料に関連した標準物質の供給や校正サービスを行っています。
グループの研究課題
図1 ピコ秒過渡吸収分光装置
過渡吸収スペクトルおよび蛍光寿命を測定する分光計測技術の開発
可視から近赤外の波長領域に渡って、過渡吸収スペクトルおよび蛍光寿命を測定する分光計測技術の開発を行なっています。
図2 リアル表面プローブ顕微鏡装置
各種ナノ物性（赤外分光、電位、弾性率等）測定技術の開発
走査型プローブ顕微鏡(SPM)用の標準試料やカンチレバー校正機器（ばね定数や探針先端）を有する、実環境（液中や真空中）対応のナノプローブ装置を用いた計測技術開発を行っています。
図3 固体NMR装置（600MHz）
固体試料の局所構造およびダイナミクスに関する研究開発
固体試料を対象とし、原子が持つ核スピンをプローブとして、局所構造およびダイナミクスを原子・分子レベルで測定する技術の開発を行っています。
グループの構成メンバー
| 顔写真 | 名前 | 専門分野 |  メールアドレス、 ホームページ、他 |
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グループ長
松﨑 弘幸（MATSUZAKI Hiroyuki） |
hiroyuki-matsuzaki[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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伊藤 賢志（兼） （ITO Kenji） |
k-ito[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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白澤 徹郎 （SHIRASAWA Tetsuro） |
t.shirasawa[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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細貝 拓也 （HOSOGAI Takuya） |
 t.hosokai[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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石田 明 （ISHIDA Akira） |
akira.ishida[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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井藤 浩志 （ITOH Hiroshi） |
h.itoh[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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今村 元泰 （IMAMURA Motoyasu） |
motoyasu.imamura[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
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服部 峰之 （HATTORI Mineyuki） |
mineyuki.hattori[ｱｯﾄ]aist.go.jp |
([ｱｯﾄ]を@にして送信してください）
