産総研：先端ナノ計測施設（ANCF)

お知らせ	ARIM JapanサイトのURLが変更になります。 4月21日(月)以降は、旧URL（https://nanonet.mext.go.jp）にアクセスいただくと、URLが変更になった旨の案内が表示されるとともに自動的に、新しいURLへ移動するようになります（リダイレクト）。リダイレクトは、5月いっぱい継続いたしますが、それ以降、旧URLへのアクセスができなくなります。 4月21日以降の変更URL （https://nanonet.go.jp）
お知らせ	令和7年度の試行的利用(利用料と旅費の補助を行います）の申請受付が開始されました。今年度の制度の変更点は、年齢制限40歳未満を撤廃しました。初めて共用装置のご利用を考えられておられる、アカデミアの研究者や中小・スタートアップ企業の研究者の方も、是非この機会にARIMのシステムを体験してください。こちらから詳細をご覧ください。
お知らせ	令和7年度学生研修プログラムの応募受付が開始されました。応募締切は2025年5月31日必着です。こちらから詳細をご覧ください。
利用料金	「ANCF機器使用単価表」が2025年4月1日に改訂されました。
約款	「国立研究開発法人産業技術総合研究所共用施設等利用約款」が2024年4月1日に改正されました。※ 2025年4月1付けで一部改正
お知らせ	産総研先端ナノ計測施設（ANCF）は、2月28日（金曜日）より、令和７年度の課題登録の受付を開始します。 ANCFのご利用を予定されている方は、課題申請の「申請年度」を「２０２５年度」と選択していただき、申請願います。令和６年度と利用者の変更の無い課題を申請される外部利用に於きましては、３月２１日（金曜日）までに手続きを行っていただければ人材登録の更新が可能です（履歴情報の提出が不要となります）。
パンフレット	「産総研先端ナノ計測施設パンフレット和英版」(2025.2)が出来ました。
お知らせ	ご利用の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが、共用施設として公開して参りました極端紫外光光電子分光装置（EUPS）の運用を終了させていただきます。今までご愛顧いただきました皆様には深く御礼申し上げるとともに、この度のお知らせとなりましたことを心よりお詫び申し上げます。
お知らせ	ご利用の皆様には大変申し訳ございませんが、ただいま、可視・近赤外過渡吸収分光装置群のうち（３）ピコ秒可視蛍光寿命計測装置（旧・ANCF005）が故障のため運用を中止いたしております。残念ながら復旧の見込みはたっておりませんので、ご承知おきください。他の装置で測定が可能かどうかについては装置担当者にご相談ください。
ご利用方法	ANCF施設のご利用を検討されている方は、「ご利用方法」をクリックして、利用者登録の手順をご覧ください。
受賞・表彰	産総研　微細構造解析PF　石塚知明が「文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム令和3年度技術スタッフ表彰技術支援貢献賞」を受賞しました！
お知らせ	ARIMホームページがリニューアルされました！変更後のURL こちらからご覧ください。

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令和7年度の試行的利用(利用料と旅費の補助を行います）の申請受付が開始されました。
今年度の制度の変更点は、年齢制限40歳未満を撤廃しました。初めて共用装置のご利用を考えられておられる、アカデミアの研究者や中小・スタートアップ企業の研究者の方も、是非この機会にARIMのシステムを体験してください。
こちらから詳細をご覧ください。

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応募締切は2025年5月31日必着です。こちらから詳細をご覧ください。

利用料金

「ANCF機器使用単価表」が2025年4月1日に改訂されました。

約款

「国立研究開発法人産業技術総合研究所共用施設等利用約款」が2024年4月1日に改正されました。※ 2025年4月1付けで一部改正

お知らせ

産総研先端ナノ計測施設（ANCF）は、2月28日（金曜日）より、令和７年度の課題登録の受付を開始します。
ANCFのご利用を予定されている方は、課題申請の「申請年度」を「２０２５年度」と選択していただき、申請願います。
令和６年度と利用者の変更の無い課題を申請される外部利用に於きましては、３月２１日（金曜日）までに手続きを行っていただければ人材登録の更新が可能です（履歴情報の提出が不要となります）。

パンフレット

「産総研先端ナノ計測施設パンフレット和英版」(2025.2)が出来ました。

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ご利用の皆様には大変ご迷惑をおかけいたしますが、共用施設として公開して参りました
極端紫外光光電子分光装置（EUPS）の運用を終了させていただきます。今までご愛顧いただきました皆様には深く御礼申し上げるとともに、この度のお知らせとなりましたことを心よりお詫び申し上げます。

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ご利用の皆様には大変申し訳ございませんが、ただいま、可視・近赤外過渡吸収分光装置群のうち（３）ピコ秒可視蛍光寿命計測装置（旧・ANCF005）が故障のため運用を中止いたしております。残念ながら復旧の見込みはたっておりませんので、ご承知おきください。他の装置で測定が可能かどうかについては装置担当者にご相談ください。

ご利用方法

ANCF施設のご利用を検討されている方は、「ご利用方法」をクリックして、利用者登録の手順をご覧ください。

受賞・表彰

産総研　微細構造解析PF　石塚知明が
「文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム令和3年度技術スタッフ表彰
技術支援貢献賞」を受賞しました！

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産総研ANCFの概要

≪施設情報≫

■産総研先端ナノ計測施設（ANCF）による先端計測分析技術の開発と公開

産総研では、国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して、先端計測分析技術の開発を実施しています。これまで見えなかったものを見えるようにする計測技術を創造し、次いで、それを各種の応用に適用して分析技術として仕上げることをミッションにしています。これらを実現する手法として、開発した装置や技術を公開して、社会における課題の解決に挑戦しています。

公開は、産総研先端ナノ計測施設（AIST Nanocharacterization Facility: ANCF）にて実施しています。

陽電子プローブマイクロアナライザー（PPMA）
超伝導蛍光収量Ｘ線吸収微細構造分析装置（SC-XAFS）
可視-近赤外過渡吸収分光装置（VITA）
リアル表面プローブ顕微鏡（RSPM）
固体NMR装置（SSNMR）
超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)

■文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM)　

2021 年度より文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ事業（ARIM）が10 年計画で推進されています。ARIM はマテリアルの計測・分析・加工に関する最先端設備の共用とデータ収集・利活用のためのインフラを構築し、以って『マテリアルDX プラットフォーム』の一翼を担い、我が国のマテリアル革新力の一層の強化を目指します。そのため、これまでのナノテクノロジープラットフォーム事業で構築した共用設備と高度な技術支援を提供する専門技術者集団の基盤を十分に活用しています。産総研先端ナノ計測施設（ANCF）は産総研ナノプロセシング施設（NPF）とともにARIM に参画し、量子・電子マテリアルを中心とする最先端ナノ材料のデータ取得・分析・収集に取り組みます。

(代表機関：国立研究開発法人物質・材料研究機構）

産総研ANCFは文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM）に参画しています。プラットフォーム参画の他の機関が公開している透過型電子顕微鏡（TEM）などの原子スケールのイメージング（木を見るナノ計測分析）に対して、産総研ANCFでは原子欠陥や特定の元素の回りの原子配位といった平均として得られるナノ情報を提供します（森を見るナノ計測分析）。

■事務局

　国立研究開発法人産業技術総合研究所　計量標準総合センター

　分析計測標準研究部門　ANCF事務局

　〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 中央事業所２群 2-10棟

　 Eメール：ancf-contact-ml[ｱｯﾄ]aist.go.jp 　　([ｱｯﾄ]を＠にして送信してください）

ANCF

<あなたの試料を測ります！！お気軽にお問合せください>

産総研ANCFの概要

■産総研先端ナノ計測施設（ANCF）による先端計測分析技術の開発と公開

■文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM)

■事務局

　　<あなたの試料を測ります！！お気軽にお問合せください>

■文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ（ARIM)　