産総研では、国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して、先端計測分析技術の開発を実施しています。これまで見えなかったものを見えるようにする計測技術を創造し、次いで、それを各種の応用に適用して分析技術として仕上げることをミッションにしています。 これらを実現する手法として、開発した装置や技術を公開して、社会における課題の解決に挑戦しています。
公開は、産総研先端ナノ計測施設（AIST Nanocharacterization Facility: ANCF）にて実施しています。
産総研ANCFは、TIA(オープンイノベーション拠点）、イノベーション創出機器共用プラットフォーム(IBEC)、および、文部科学省事業のナノテクノロジープラットフォーム・微細構造解析プラットフォームの双方に参画し、両制度の併用で全国からの計測要望に幅広く対応しています。
- 陽電子プローブマイクロアナライザー装置（PPMA）
- 超伝導蛍光収量Ｘ線吸収微細構造分析装置（SC-XAFS）
- 可視-近赤外過渡吸収分光装置（VITA）
- リアル表面プローブ顕微鏡装置（RSPM）
- 固体NMR装置（SSNMR）
- 極端紫外光光電子分光装置（EUPS)
- 超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)
---------公開機器----------
最先端計測技術群による微細構造解析分野における共同利用に供する枠組みを確立し､ナノテクノロジーを活用した先進材料・デバイス分野における学問的・技術的課題解決によるマテリアルイノベーションに寄与するとともに､我が国のナノテクノロジーのさらなる発展､競争力向上､人材育成に貢献することを目的とします｡大学や独法が整備してきた先端ナノ計測技術群を､産学官の利用者ニーズに対応した研究支援に供することにより､世界をリードするトップレベルの研究成果を続々と生み出すことを可能にします。
(代表機関：国立研究開発法人物質・材料研究機構）
産総研ANCFは微細構造解析プラットフォームに参画しています。プラットフォーム参画の他の機関が公開している透過型電子顕微鏡（TEM）などの原子スケールのイメージング（木を見るナノ計測分析）に対して、産総研ANCFでは原子欠陥や特定の元素の回りの原子配位といった平均として得られるナノ情報を提供します（森を見るナノ計測分析）。
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計量標準総合センター 分析計測標準研究部門
計量標準総合センター 物質計測標準研究部門 エレクトロニクス・製造領域 ナノエレクトロニクス研究部門 |
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事務局
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター
分析計測標準研究部門 ANCF事務局 〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 つくば中央第2 電話：029-861-5300 FAX：029-861-5881
Eメール：ancf-contact-ml[ｱｯﾄ]aist.go.jp ([ｱｯﾄ]を＠にして送信してください） |
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