ANCF

産総研では、国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して、先端計測分析技術の開発を実施しています。これまで見えなかったものを見えるようにする計測技術を創造し、次いで、それを各種の応用に適用して分析技術として仕上げることをミッションにしています。 これらを実現する手法として、開発した装置や技術を公開して、社会における課題の解決に挑戦しています。

公開は、産総研先端ナノ計測施設（AIST Nanocharacterization Facility: ANCF）にて実施しています。

---------公開機器----------
1. 陽電子プローブマイクロアナライザー（PPMA）
2. 超伝導蛍光収量Ｘ線吸収微細構造分析装置（SC-XAFS）
3. 可視-近赤外過渡吸収分光装置（VITA）
4. リアル表面プローブ顕微鏡（RSPM）
5. 固体NMR装置（SSNMR）
6. 極端紫外光光電子分光装置（EUPS)
7. 超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)