標準尺
図1 標準尺
図1に示す標準尺は、画像測定器などの校正に用いる標準器として使われています。近年、 画像測定器の高精度化と、そのトレーサビリティへの要求の高まりから、 標準尺の校正の需要が増えてきています。 産業技術総合研究所では、安定化He-Neレーザを用いたレーザ干渉計による絶対校正を行っています。
校正範囲：1000 mmまで
| 拡張不確かさ（k=2） | 条件・備考 | 認定 |
|---|---|---|
| 低熱膨張係数材の場合 √((58 nm)2+(0.13×10-6 L)2) （L: 呼び寸法） （L = 50 mmで59 nm、100 mmで60 nm、 500 mmで86 nm、1000 mmで139 nm） |
ASNITE認定、KCDB登録（別ウィンドウが開きます） |
校正技術
標準尺の校正技術については、 産総研 TODAY, Vol. 6（別ウィンドウが開きます）, No. 10, pp. 34-35 (2006)をご参照下さい。 [PDFファイルはこちら、418KB]
校正責任者
寺田 聡一参加国際比較
| 比較番号 | 比較の種類 | 比較実施時期 | 測定対象 | 国際比較DB （英語、別ウィンドウが開きます。） |
|---|---|---|---|---|
| CCL-S3 | CIPM補完比較 | 2000年-2002年 | ゼロデュア（280 mm）、石英（280 mm） | CCL-S3 |
| APMP.L-K7.2014 | APMP基幹比較 | 2015年-2017年 | クリアセラムZ-HS（500 mm） | APMP.L-K7.2014 |
マスコット
図2 標準尺のマスコット。
左：標準ジャック、右：直ジャクリーン
図2は標準尺グループのマスコット達です。