超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)
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〜微量軽元素のマッピングを実現〜
(この動画の情報は、2019年撮影当時のものです。)
〜微量軽元素のマッピングを実現〜
1.超伝導エネルギー分散分光検出器を搭載した走査型電子顕微鏡
2.100 ppm以下の微量元素を検出可能
3.特定元素については化学状態分析も可能
4.WDSのエネルギー分解能でSDD並の検出効率を実現、省エネ半導体中のドーバントや酸化物、
磁性体中に含まれる各元素の3次元的なナノメータースケールの分布状況を高いスループットで評価
・蛍光X線エネルギー範囲:40 eV-4 keV(超伝導)、
200 eV-20 keV(半導体)
・エネルギー分解能:〜7 eV@400 eV X-ray (超伝導)、
<56 eV@C-Ka(半導体)
・計数率:200 kcps
・走査型電子顕微鏡:JEOL JSM-IT800SHLs
・加速器電圧範囲:10 V-30 kV
・最大サンプルサイズ:Φ100 o、Φ10 o(冷却時)
・2次電子最高空間分解能:0.6 nm程度@15 kV, 1.1 nm程度@1 kV
・試料最低冷却温度:−190 ℃以下
・機械式ヘリウム3冷凍機を用いて簡単に冷却でき、長時間の測定可能
1keV以下の特性X線を7-14 eVのエネルギー分解能で弁別、析出物の組成分析を実現。
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