//大気中で原子スケール欠陥の評価を実現//

特徴

  1. 電子の反粒子である陽電子のマイクロビームを作り、物質中の陽電子寿命マッピングを測定
  2. 原子が1個抜けた原子空孔、ナノボイドのサイズ、分布を評価

   (競合:独ミュンヘン大)

仕様

  • 陽電子源 : 電子加速器対生成方式
  • 陽電子ビーム径 : 0.01 mm ~ 10 mm
  • 陽電子ビームエネルギー : 1 keV-30 keV
  • 寿命測定時間分解能 : 200 ps-300 ps

   N. Ohshima, et al., App. Phys. Lett. 101, 014102 (2012)



支援例

 大気陽電子ビームによるその場評価技術を開発、支援を開始

 

 

 

 

 

図1.超薄膜真空窓を利用した低速陽電子の大気中への
取出システムの概略

図2.ポリビニルアルコール薄膜の細孔サイズ相対湿度依存性
評価例(厚さ400nm)

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