計量標準総合センター : National Metrology Insutitute of Japan (NMIJ)


2018年度 計量標準総合センター成果発表会
 
産総研計量標準総合センター(NMIJ)における1年間の成果を、各職員がポスター形式で詳しく説明致します。
また、ポスターセッションに先立って、「研究室見学ツアー」(事前登録制:2019年1月31日(木)締切)、
および、口頭発表形式の「研究トピックスの紹介」も行います。
皆様のご参加を心よりお待ちしております。


 開 催 概 要 

◆開催日◆ 2019年2月14日(木)、15日(金)<開催案内 [ 678KB] >

◆場所◆ 産業技術総合研究所 つくばセンター共用講堂(産総研 つくば中央

◆プログラム◆
2月14日(木)
  <工学計測標準研究部門>

  <物理計測標準研究部門>

10:00〜12:00 研究室見学 応募は締め切りました
13:00〜14:00 研究トピックスの紹介 (事前登録不要)
・両面干渉計によるシリコンウエハーの高精度厚さ測定 〇平井亜紀子、尾藤洋一
・水素ディスペンサー計量性能検査装置の開発    森岡敏博
・電磁波シールドルームのための1アンテナ法を用いた
   シールド特性評価察
〇松川沙弥果、黒川 悟
・あらゆる光をとらえて逃がさない黒い材料の開発発 ◯雨宮邦招、清水雄平、越川博(量研機構)、
   井邊真俊、八巻徹也(量研機構)、蔀 洋司
14:00〜16:30 ポスターセッション (事前登録不要)


2月15日(金)
  <物質計測標準研究部門>

  <分析計測標準研究部門>

10:00〜12:00 研究室見学 応募は締め切りました
13:00〜14:00 研究トピックスの紹介 (事前登録不要)
・マイクロメートル粒径域に対応した
   気中パーティクルカウンタの校正法
   飯田健次郎
・高温における比熱容量標準の開発 〇阿部陽香、山田修史
・天秤法を用いたTI測定 〇内田武吉、吉岡正裕、堀内竜三
・ディジタル中性子イメージング検出器&中性子3Dスキャナー    藤原 健
14:00〜16:30 ポスターセッション (事前登録不要)

<問合せ先>  本件に関するご質問は下記までご連絡ください。
計量標準総合センター 計量標準普及センター 計量標準調査室 (電話 029-861-4118)
  nmij-seika-ml@aist.go.jp