満汐 孝治 （MICHISHIO Koji）
- 所属
- 分析計測標準研究部門 応用ナノ計測研究グループ
- キーワード
- 結晶欠陥
- ナノ空隙
- 構造材料
- 半導体
- 機能性高分子
- 薄膜
- 粉末体
- 非破壊分析
- 局所分析
- 陽電子消滅
- プローブ顕微鏡
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