小林慶太（KOBAYASHI Keita）

所属

物質計測標準研究部門ナノ構造計測標準研究グループ

キーワード

透過電子顕微鏡(TEM)
走査電子顕微鏡(SEM)
電子回折
電子後方散乱回折
集束イオンビーム加工
試料加工
ナノ測長
ナノ計測
倍率校正
半導体
金属

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