井藤浩志（ITOH Hiroshi）

所属

物質計測標準研究部門ナノ構造計測標準研究グループ

キーワード

原子間力顕微鏡
走査型プローブ顕微鏡
AFM
SPM
Nano-IR
FTIR
赤外分光法
ISO国際標準
ナノラフネス
表面粗さ
標準試料

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