権太聡（GONDA Satoshi）

所属

物質計測標準研究部門

キーワード

原子間力顕微鏡（AFM）
位置決め
回折計
標準スケール
SIトレーサビリティ
半導体計測
精密計測
校正
表面化学分析
ISO
国際標準
レーザー干渉計
3Dスキャナー

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M-nmij-renkei-ml*aist.go.jp （*を@に変更して使用してください。）