藤原 幸雄 （FUJIWARA Yukio）
- 所属
- 分析計測標準研究部門 総括研究主幹
- キーワード
- 二次イオン質量分析
- SIMS
- クラスターイオン
- イオンビーム
- イオン源
- スパッタリング
- 金属クラスター錯体
- イオン液体
- 半導体
- 深さ分解能
- イオン化
- 表面・界面分析
- 深さ方向分析
- 微量元素
- ISO
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