保有機器
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MLA 鉱物単体分離分析システム（FEI製 MLA250F）
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FE-EPMA フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザ（日本電子製 JXA-8530F）
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XRD 粉末Ｘ線回折装置（リガク製 SmartLab） -
SEM-EDS エネルギー分散型X線分析装置付き走査電子顕微鏡（日本電子製 JSM-6610LV および Oxford
Instruments製 X-Max50）
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レーザーラマン分光光度計(日本分光製 NRS-5100)
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LA-ICP-MS フェムト秒レーザーアブレーション誘導結合プラズマ質量分析計（サイバーレーザー製 IFRIT および アジレントテクノロジー製 Agilent 7500cx）
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MC-ICP-MS 高分解能マルチコレクタ誘導結合プラズマ質量分析計（サーモフィッシャーサイエンティフィック製 NEPTUNE Plus）
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XRF 走査型蛍光Ｘ線分析装置（リガク製 ZSX PrimusⅢ+）
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高電圧パルス選択性粉砕装置（SELFRAG AG製 SELFRAG Lab）
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WHIMS 湿式高磁力磁選機（日本エリーズマグネチックス製 HIW L4-20K）