> | 顔写真 | 役職および名前 | 専門分野 |  E-mail（(at)を@に変換してください。） HP |
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研究グループ長
藤原 幸雄（Yukio FUJIWARA） |
クラスターイオンを用いた二次イオン質量分析 | yukio-fujiwara(at)aist.go.jp |
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主任研究員
鈴木 淳（Atsushi SUZUKI） |
気相・プラズマ診断 真空紫外光によるスパッタ粒子検出 |
a-suzuki(at)aist.go.jp |
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主任研究員
井藤 浩志（Hiroshi ITOH） |
原子間力顕微鏡の定量性の向上、および標準試料の開発 | h.itoh(at)aist.go.jp |
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主任研究員
重藤 知夫（Tomoo SIGEHUZI） |
走査近接場光学顕微鏡技術、および走査プローブ顕微鏡試料作成技術の開発 | sigehuzi.tomoo(at)aist.go.jp |
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主任研究員
浅川 大樹（Daiki ASAKAWA） |
質量分析におけるイオン化、およびフラグメンテーション | d.asakawa(at)aist.go.jp |
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研究グループ付
山本 和弘（Kazuhiro YAMAMOTO） |
超低エネルギーイオンビーム技術と透過型電子顕微鏡 | k-yamamoto(at)aist.go.jp |
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テクニカルスタッフ
七里 元晴（ Motoharu SHICHIRI） |
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産総研特別研究員
本田 暁紀（Akinori Honda） |