メンバー

三隅伊知子 (MISUMI Ichiko)	研究グループ長	ナノ構造計測標準全般
東康史 (AZUMA Yasushi)	主任研究員	X線反射率法(XRR)
柏木知弥 (KASHIWAGI Tomoya)	研究員	集束イオンビーム 走査電子顕微鏡法 (FIB-SEM)
加藤晴久 (KATO Haruhisa)	上級主任研究員	光・磁場・電場・X線を用いた材料特性評価
木津良祐 (KIZU Ryosuke)	主任研究員	原子間力顕微鏡法(AFM)
熊谷和博 (KUMAGAI Kazuhiro)	(兼務)	走査電子顕微鏡法(SEM)
小林慶太 (KOBAYASHI Keita)	主任研究員	透過電子顕微鏡法(TEM)
張麓ルウ (ZHANG Lulu)	主任研究員	X線光電子分光法(XPS)
中村文子 (NAKAMURA Ayako)	(兼務)	光・磁場・電場・X線を用いた材料特性評価

＊常勤職員のみ公開