MDPF機器の詳細情報

ナノ粒子の懸濁液や分散液の高速衝突を用いて、安定した分散状態を持つスラリーなどが製造できます。

並列した2軸のスクリューにより高い混練性を有するコンポジット材料の作製が可能です。

フィルムの作製

光の干渉性を利用して、半透明材料の内部を3次元的に構造観察することが可能です。

高温での剪断特性の測定

懸濁液中の微粒子が粒子径に応じたブラウン運動をしていることを利用し、試料液からの散乱光の時間変化化から粒径（分布）の測定ができます。

機械的特性の測定

温度を変えながら試料に荷重をかけることで、試料の応力・歪特性、軟化点、クリープ特性などが測定できます。

試料の熱拡散率が測定できます。

物体から放射される赤外光のイメージングを顕微化し、試料表面の温度分布が測定できます。

複数のポリマーを混錬してコンポジット材料を押出成形することができます。

ポリマーとガスを高温・高圧力化で混合した後、大気圧化に押出成形することで発泡材料を作成することが可能です。

コンポジット材料の作製

GPC（ゲル浸透クロマトグラフィー）は高速液体クロマトグラフィーの一種で、試料中の分子をそのサイズによって分離することを特徴とする分析装置です。

FTIR（フーリエ変換赤外線分光法）では、光干渉計からの信号の解析により分子の振動・回転スペクトルなどを解析する分光法です。

SEM（走査型電子顕微鏡）では、収束電子線を走査しながら試料に照射し、試料から二次電子線や反射電子線の強度を用いて試料表面の構造を画像化する装置です。

DSC、DTA、TMA、TGAなどにより試料の熱特性を分析する装置です。

高圧の流体を用いて、流体摩擦の剪断力によりCNTなどを分散します。

プラズマを用いて、ナノカーボン材料の表面に官能基を付加して改質します。

ナノ機械特性の評価

SEMに取り付けてナノ領域の組成分析

金属薄膜に生じる表面プラズモンを用いてラマン信号を増強して高感度に測定します。

AFMの技術を用いてナノ領域の高周波特性を測定

ロボットを用いて多種類の触媒を自動合成

多連フロー合成により高速で触媒性能を評価

高速で生成物を分析

分子の質量を分析

プラズマ発光スペクトルから組成を分析

ラジカルの電子スピンを用いてNMRを超高速化

X線回折を用いて結晶構造を評価

ガス吸着量を用いて表面積を評価

赤外線領域の吸収スペクトルを用いて分子を同定

温度変化に伴う重量変化から材料を評価

概要：　核スピンの分極増強により従来のNMRの100倍以上の高速化、従来困難な核種の測定
用途：　ポリマー末端基やポリマーブレンド界面に生じる微量な構造の分析

概要：　電子の反粒子である陽電子が試料中の空隙に捕らえられると、空隙サイズに応じた寿命で対消滅する現象を利用して、サブナノメートルの隙間サイズを評価
用途：　機能性材料（バリア膜など）の微小空隙評価、金属や半導体中の原子空孔評価

概要：　TEMによる3次元構造解析と電子非弾性散乱を用いた元素組成、化学構造分析
用途：　ポリマーブレンド・コンポジット等多成分・多相系材料の分散状態の２次元・３次元解析、及びその界面の化学状態解析、接着界面での相互作用・接着メカニズムの解析

概要：　SEM中での元素分析(エネルギー分散型X線分光法：EDS)において、軽元素のイメージングを10 nm以下までの高空間分解評価
用途：　CNTなど種々のナノ材料における表面官能基の分布分析、ドーパントなどの局在性評価

概要：　高速化Ｘ線ＣＴにより、1μm分解能前後までの微細構造の非破壊型観察が可能
用途：　試料内の欠陥検出ならびに分布状態解析、多孔質体のセル構造精密解析、繊維状配向状態の解析、マルチマテリアル部材内部における材料･材質評価

概要：　AFM技術を基盤として、材料の表面構造と複数の物性情報（光学、電気、機械）の同時計測が可能。その場測定（電場印加、試料温度可変）が可能。
用途：　コンポジットの成分分布評価、材料・デバイスの電位分布・温度特性評価、弾性局所評価

概要：　AFM技術を基盤として、マイクロ波の応答特性（<16GHz）も同時に評価可能。
用途：　高周波用途材料などの面内および数 μm深さまでの導電率・誘電率の分布、フィラー等の分散性評価

概要：　赤外光と可視光を射し、反転対称性が崩れた表面・界面で発生する和周波光を検出する、表面・界面に選択的な振動分光法。波長、変更の組み合わせで分子配向評価が可能。
用途：　表面、隠れた界面、固液界面における官能基同定、分子配向解析や化学反応追跡、基板表面吸着種の同定、電子デバイスのIn-situ測定などへの応用