X線小角散乱 SAXS
測定原理
Small-Angle X-ray Scattering （Ｘ線小角散乱）により、 数度以下の小さな回折角に現れるＸ線の散乱・回折から、 試料中の電子密度ゆらぎの分布を反映したパターンが得られます。 パターンには、構成粒子の大きさ、形状、粒子間の配列等の情報が含まれており、 測定で得られた情報をいくつかの条件で固定することにより、 知りたい構造パラメーターをシミュレーションフィッティングによって 測定結果を求めることができます。
例： 希薄な単分散系で、粒子がほぼ球形と仮定できる試料なら、 ⇒粒径のみをパラメーターとしてフィッティングを行い、 良好に粒子径分布を得ることができます。
特徴
- 試料は、分散溶液のままでよい。
- 環境は、大気中のままでよい。
- フロー状態でも測定可能。
- 基本的に非破壊測定を実現。
- 温度圧力等の環境制御が比較的容易。
システム例
Bonse-Hart 光学系により、短い光学系で高精度を実現しています。
ナノ粒子測定例
1000 nm 径 SiO2 粒子 2wt% conc.
フィッティングにより、D=1018±1.14 nmという良好な結果が得られました。