カスタムデバイスグループ/ Advanced Materials and Devices Integration Group

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電子源開発拠点


カスタムデバイスグループでは、最近の電子源ニーズの高まりを受けて、電子源研究のためのファシリティーを増強中です。
・電子源試作専用のクリーンルーム、イエロールーム
・各種電子源評価装置


facilities



クリーンルーム内の装置
RIE3台 メタル専用、シリコン専用、汎用
プラズマCVD1台 TEOS-SiO2
インライン型スパッタ2台 3源、電極、窒化物・酸化物
超高真空スパッタ1台 3源、電極、窒化物
EB蒸着1台 スピント型エミッタ作製用
横型電気炉2台 熱酸化、アニール
グラフェンCVD4台 グラフェン、BN成膜
FE-SEM1台 構造評価 最高倍率50万倍
Auコーター1台  
プラズアッシャー1台 レジスト剥離など
光干渉式膜厚計1台 絶縁膜の膜厚測定など
多波長エリプソメトリ1台 4波長
触針式段差計1台 電極膜厚測定など
ダイシングソー1台  
ウエハマウンター1台  
ウエハエキスパンダー1台  
超音波ボンダー1台 アルミワイヤー/Auワイヤー
プローバー1台  
ドラフト1台 酸・有機
光学顕微鏡1台  

 

イエロールーム内の装置
ステッパ(露光機)1台 g線
マスクレス露光機1台 i線
セミオートレジストコーター1台 2 inch~6 inch, 角基板対応
表面疎水化処理装置1台 HMDS処理
マニュアルコーター1台 ミカサ

 

電子源評価装置
LL式エミッション評価チャンバー1台 ビームプロファイル評価装置付き
加熱測定装置1台 300℃以上
多目的評価装置1台 イオン液体スラスター他の評価
液中エミッション評価装置1台 ガスクロ付き
PEEM/FEEM1台  
エミッションプロファイラ1台  
FIM1台  
エネルギー分析装置1台  

 

その他評価装置
顕微ラマン1台  
AFM1台  
ハイソメーター1台 段差測定
4探針抵抗測定装置2台 マニュアル機+ロレスタ
光学顕微鏡1台