近年，人間には音として聞こえない，20 Hz以下の周波数帯域（超低周波音）による不快感に関連する苦情が増加しています． 当研究グループでは，この周波数帯に対応するため1 Hzから20 Hzの周波数帯域を対象としたマイクロホン音圧感度校正依頼試験を2011年度に開始しました． 一般に可聴域で用いられる「カプラ校正法」の場合，低周波帯域では，SN比が低下して精度の良い測定が困難です．そこで， 代替法としてレーザピストンホンと呼ばれる装置を用いて測定します．これは，加振器に取り付けたピストンを振動させることで， カプラ内に大きな音圧を発生させることができる装置です．マイケルソン干渉計で測定したピストン振動の振幅を， 音圧レベルに換算できます．この結果と，マイクロホンの出力電圧の測定値の比から，音圧感度レベルを校正することができます．

 

校正の種類	音圧感度
校正器物	標準マイクロホン
校正範囲	I型マイクロホン：1 Hz～20 Hz
最高測定能力 (k = 2)	0.2 dB : 1 Hz ≤ f ≤ 2 Hz 0.1 dB : 2 Hz < f ≤ 20 Hz
校正方法	レーザピストンホンによる音圧絶対校正