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第1部
「分散分析を用いた不確かさ評価について」 城野克広(粒子計測研究室)
「回帰分析を用いた不確かさ評価について」 田中秀幸(粒子計測研究室)
第2部
特別講演 「JCGMにおけるGUM・VIMに関する最新動向」
今井秀孝(製品評価技術基盤機構顧問、産業技術総合研究所
計測標準研究部門研究顧問、日本電気計器検定所理事)
講演 「JCSS不確かさガイドの発行について」
石毛浩美(製品評価技術基盤機構)
講演 「ISO TC69(統計的手法の適用)で作成された不確かさに関わる規格について」
小池昌義(産業技術総合研究所 計量研修センター)