第６２回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６２回総会
日時：２０２６年７月１７日（金） 10時15分～11時45分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-8，-13 検査用ゲージの校正状況について
３．話題提供：接触式CMMを用いた平面形状の校正について
４．その他
※内容が変更になる場合があります。ご了承ください。
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６２回総会
日時：２０２６年７月１７日（金） 10時15分～11時45分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-8，-13 検査用ゲージの校正状況について
３．話題提供：接触式CMMを用いた平面形状の校正について
４．その他
※内容が変更になる場合があります。ご了承ください。
第６１回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６１回総会
日時：２０２６年３月２４日（火） 10時30分～12時30分
開催方法：ハイブリッド方式
（会場：東京電機大学 東京千住キャンパス １号館１２０４セミナー室）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和7年度活動報告
３．令和7年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．令和8年度活動予定
６．その他
(1)話題提供：欧州における機上三次元計測の精度評価と標準化へ向けた取り組み
(2)話題提供：JJF1951-2021（中国の検査規格）について
(3)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第61回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６１回総会
日時：２０２６年３月２４日（火） 10時30分～12時30分
開催方法：ハイブリッド方式
（会場：東京電機大学 東京千住キャンパス １号館１２０４セミナー室）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和7年度活動報告
３．令和7年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．令和8年度活動予定
６．その他
(1)話題提供：欧州における機上三次元計測の精度評価と標準化へ向けた取り組み
(2)話題提供：JJF1951-2021（中国の検査規格）について
(3)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第61回資料
第６０回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６０回総会
日時：２０２６年１月９日（金） 13時15分～14時45分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．ISO 10360-13/JIS B 7440-13 の普及状況について
３．話題提供：測定の不確かさ算出法（ISO/TS 15530-2）について
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第60回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６０回総会
日時：２０２６年１月９日（金） 13時15分～14時45分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．ISO 10360-13/JIS B 7440-13 の普及状況について
３．話題提供：測定の不確かさ算出法（ISO/TS 15530-2）について
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第60回資料
第５９回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５９回総会
日時：２０２５年７月８日（火） 10時30分～12時30分
開催方法：ハイブリッド方式（会場：東京電機大学 東京千住キャンパス ５号館５２０５教室）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JCSS 技術的要求事項適用指針 座標測定機（第8版）について
３．JIS B 7440-13 に基づく受入検査について（6.2.2節，6.3.4節）
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第59回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５９回総会
日時：２０２５年７月８日（火） 10時30分～12時30分
開催方法：ハイブリッド方式（会場：東京電機大学 東京千住キャンパス ５号館５２０５教室）
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JCSS 技術的要求事項適用指針 座標測定機（第8版）について
３．JIS B 7440-13 に基づく受入検査について（6.2.2節，6.3.4節）
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第59回資料
第５８回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５８回総会
日時：２０２５年３月２６日（水） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住キャンパス ５号館５５０２教室
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和６年度活動報告
３．令和６年度決算報告
４．来年度の事業御継続における審議
５．令和７年度活動予定
６．その他
(1)話題提供：座標測定機の受入検査規格と座標測定機の「校正」の関係について
(2)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第58回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５８回総会
日時：２０２５年３月２６日（水） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住キャンパス ５号館５５０２教室
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和６年度活動報告
３．令和６年度決算報告
４．来年度の事業御継続における審議
５．令和７年度活動予定
６．その他
(1)話題提供：座標測定機の受入検査規格と座標測定機の「校正」の関係について
(2)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第58回資料
第５７回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５７回総会
日時：２０２４年１２月２５日（水） 10時00分～12時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams)
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-13の発行後の取り組みについて
３．JIS B 7440-8の長さ測定誤差検査とJIS B 7440-13の連結測定空間における
空間長さ誤差検査の関係について
(1)連結しない空間における7方向5水準の検査について
(2)連結測定空間における空間長さ誤差検査における基準器の姿勢について
４．その他
話題提供：VDI/VDE 2634-2とISO 10360-13の検査内容を比較した論文の紹介
VDI/VDE 2634-2 and ISO 10360-13 performance evaluation tests, and systematic
errors in structured light systems, Precision Engineering, 80 (2024), pp. 804-814
(1)話題提供：ISO/PWI 24310 Spherical material measure について（更新）
(2)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第57回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５７回総会
日時：２０２４年１２月２５日（水） 10時00分～12時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams)
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-13の発行後の取り組みについて
３．JIS B 7440-8の長さ測定誤差検査とJIS B 7440-13の連結測定空間における
空間長さ誤差検査の関係について
(1)連結しない空間における7方向5水準の検査について
(2)連結測定空間における空間長さ誤差検査における基準器の姿勢について
４．その他
話題提供：VDI/VDE 2634-2とISO 10360-13の検査内容を比較した論文の紹介
VDI/VDE 2634-2 and ISO 10360-13 performance evaluation tests, and systematic
errors in structured light systems, Precision Engineering, 80 (2024), pp. 804-814
(1)話題提供：ISO/PWI 24310 Spherical material measure について（更新）
(2)その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第57回資料
第５６回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５６回総会
日時：２０２４年７月１７日（水） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住アネックス
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-13の発行と JIS B 7440-8 改正後の取り組みについて
３．欧州における機上三次元計測の精度評価と標準化へ向けた取り組みについて Application of Digital-Metrological Twins for emerging measurement technology in advanced manufacturing プロジェクトの紹介
４．その他
(1) 話題提供：
STEP積層造形機の機上測定センサ校正用ワークピースの設計（仮題）
東京大学大学院 工学系研究科 宇井象一様
(2) 話題提供：ISO/PWI 24310 Spherical material measure について（更新）
(3) その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第56回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５６回総会
日時：２０２４年７月１７日（水） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住アネックス
内容：
１．あいさつ 産総研
２．JIS B 7440-13の発行と JIS B 7440-8 改正後の取り組みについて
３．欧州における機上三次元計測の精度評価と標準化へ向けた取り組みについて Application of Digital-Metrological Twins for emerging measurement technology in advanced manufacturing プロジェクトの紹介
４．その他
(1) 話題提供：
STEP積層造形機の機上測定センサ校正用ワークピースの設計（仮題）
東京大学大学院 工学系研究科 宇井象一様
(2) 話題提供：ISO/PWI 24310 Spherical material measure について（更新）
(3) その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第56回資料
第５５回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５５回総会
日時：２０２４年３月１８日（月） 10時30分～12時30分
場所：東京都立産業技術研究センター 城南支所 2階研修室
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和5年度活動報告
３．ISO 10360-13 の JIS 化について
４．JIS B 7440-8 の改正について
５．令和5年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和6年度活動予定
８．その他
(1) 話題提供：ISO/PWI 24310 （Spherical material measures）について
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第55回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５５回総会
日時：２０２４年３月１８日（月） 10時30分～12時30分
場所：東京都立産業技術研究センター 城南支所 2階研修室
内容：
１．あいさつ 産総研
２．令和5年度活動報告
３．ISO 10360-13 の JIS 化について
４．JIS B 7440-8 の改正について
５．令和5年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和6年度活動予定
８．その他
(1) 話題提供：ISO/PWI 24310 （Spherical material measures）について
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第55回資料
第５４回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５４回総会
日時：２０２３年１２月１９日（火） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住アネックス
内容：
１．あいさつ
２．JIS B 7440-8の改正およびJIS B 7440-13発行のスケジュールについて
３．JIS B 7440-13規定の検査によるJIS B 7440-8旧規格の検査の代替について
４．意見交換：JCSSの対象装置の拡大について
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第54回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５４回総会
日時：２０２３年１２月１９日（火） 10時30分～12時30分
場所：東京電機大学 東京千住アネックス
内容：
１．あいさつ
２．JIS B 7440-8の改正およびJIS B 7440-13発行のスケジュールについて
３．JIS B 7440-13規定の検査によるJIS B 7440-8旧規格の検査の代替について
４．意見交換：JCSSの対象装置の拡大について
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第54回資料
第5３回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第5３回総会
日時：２０２３年７月１８日（火） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13のJIS化とJIS B 7440-8の改正について
３．話題提供
(1)畜産分野での光学式三次元測定の活用（仮） 農研機構 本山三知代様
(2)論文紹介：非接触座標測定機の測定不確かさ算出
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第53回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第5３回総会
日時：２０２３年７月１８日（火） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13のJIS化とJIS B 7440-8の改正について
３．話題提供
(1)畜産分野での光学式三次元測定の活用（仮） 農研機構 本山三知代様
(2)論文紹介：非接触座標測定機の測定不確かさ算出
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第53回資料
第5２回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第5２回総会
日時：2023年３月７日（火） 11時00分～13時00分
場所：東京都立産業技術研究センター 城南支所
内容：
１．あいさつ
２．令和４年度活動報告
３．ISO 10360-13のJIS化について
４．JIS B 7440-8の改正について
５．令和４年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和５年度活動予定
(1)コンソーシアムで作成した器物について
８．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第52回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第5２回総会
日時：2023年３月７日（火） 11時00分～13時00分
場所：東京都立産業技術研究センター 城南支所
内容：
１．あいさつ
２．令和４年度活動報告
３．ISO 10360-13のJIS化について
４．JIS B 7440-8の改正について
５．令和４年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和５年度活動予定
(1)コンソーシアムで作成した器物について
８．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第52回資料
第51回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第51回総会
日時：2023年2月1日（水） 15時00分～16時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．JIS B 7440-8 の改定について
３．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第51回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第51回総会
日時：2023年2月1日（水） 15時00分～16時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．JIS B 7440-8 の改定について
３．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第51回資料
第50回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第50回総会
日時：2022年10月24日（月） 10時30分～12時30分
開催方法：リファレンス新有楽町ビル貸会議室
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13のJIS化について
３．JIS B 7440-8 の改定についての意見募集
４．話題提供
ISO/PWI 6061 Reconstructionについて
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第50回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第50回総会
日時：2022年10月24日（月） 10時30分～12時30分
開催方法：リファレンス新有楽町ビル貸会議室
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13のJIS化について
３．JIS B 7440-8 の改定についての意見募集
４．話題提供
ISO/PWI 6061 Reconstructionについて
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第50回資料
第49回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第49回総会
日時：2022年3月24日（木） 14時00分～16時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．令和３年度活動報告
３．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の発行について
４．令和３年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．令和４年度活動予定
７．話題提供
非接触三次元測定の取り組み紹介
設計・製造・検査プロセスをつなぐ共通フォーマット国際標準策定へ向けた活動の紹介
８．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第49回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第49回総会
日時：2022年3月24日（木） 14時00分～16時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．令和３年度活動報告
３．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の発行について
４．令和３年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．令和４年度活動予定
７．話題提供
非接触三次元測定の取り組み紹介
設計・製造・検査プロセスをつなぐ共通フォーマット国際標準策定へ向けた活動の紹介
８．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第49回資料
第48回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第48回総会
日時：2021年12月23日（木） 13時30分～15時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の発行について
３．JIS B 7440-8 の改正作業に向けた意見募集
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第48回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第48回総会
日時：2021年12月23日（木） 13時30分～15時30分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の発行について
３．JIS B 7440-8 の改正作業に向けた意見募集
４．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第48回資料
第47回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第47回総会
日時：2021年8月27日（金） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の開発状況報告
３．非直交形光学式CMSの受入検査方法の検証について
４．話題提供
光学式非接触測定に適した前処理スプレーの開発（仮）
株式会社フジオカ 技術顧問 木村 勝典
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第47回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第47回総会
日時：2021年8月27日（金） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13（非直交形光学式CMS）の開発状況報告
３．非直交形光学式CMSの受入検査方法の検証について
４．話題提供
光学式非接触測定に適した前処理スプレーの開発（仮）
株式会社フジオカ 技術顧問 木村 勝典
５．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第47回資料
第46回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第46回総会
日時：2021年3月22日（月） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．令和２年度活動報告
３．ISO 10360-13 （非直交形光学式CMS） の開発状況報告
４．非直交形光学式CMSの受入検査方法の検証について
５．令和２年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和３年度活動予定
８．話題提供
９．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第46回資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第46回総会
日時：2021年3月22日（月） 10時00分～12時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．令和２年度活動報告
３．ISO 10360-13 （非直交形光学式CMS） の開発状況報告
４．非直交形光学式CMSの受入検査方法の検証について
５．令和２年度決算報告
６．来年度の事業継続に関する審議
７．令和３年度活動予定
８．話題提供
９．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第46回資料
第45回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第45回総会
日時：2020年11月13日（金） 14時00分～16時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13 （非直交形光学式CMS） の開発状況報告
３．国内規格の整備方針について
４．非直交形光学式 CMS の受入検査方法の検証について
５．来年度の事業継続に関する審議
６．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第45回資料_配布用
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第45回総会
日時：2020年11月13日（金） 14時00分～16時00分
開催方法：オンライン（Microsoft Teams）
内容：
１．あいさつ
２．ISO 10360-13 （非直交形光学式CMS） の開発状況報告
３．国内規格の整備方針について
４．非直交形光学式 CMS の受入検査方法の検証について
５．来年度の事業継続に関する審議
６．その他
資料：
●光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第45回資料_配布用
第44回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第44回総会
日時：2020年2月26日（水） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1206セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．コンソーシアム会長専任
３．令和元年度活動報告
４．令和元年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．令和２年度活動予定
７．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
８．話題提供：
「３次元変位計測のデジタル化トレンド」
９．その他
資料：
●第44回総会議事次第
●第15年度決算報告
●平成31年度活動報告及び令和2年度活動予定案
●ISO-TC213-WG10_N1366_200126a_Progress_report_of_ISO_10360-13
●ISO-TC213-WG10_N1367_191125b_self_contained_error_propagation
●ISO-TC213-WG10_N1378_DIS_10360-13_rev_226
●ISO-TC213-WG10_N1383_WG_10-Resolutions_48th_meeting_Queretaro_2020
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第44回総会
日時：2020年2月26日（水） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1206セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．コンソーシアム会長専任
３．令和元年度活動報告
４．令和元年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．令和２年度活動予定
７．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
８．話題提供：
「３次元変位計測のデジタル化トレンド」
９．その他
資料：
●第44回総会議事次第
●第15年度決算報告
●平成31年度活動報告及び令和2年度活動予定案
●ISO-TC213-WG10_N1366_200126a_Progress_report_of_ISO_10360-13
●ISO-TC213-WG10_N1367_191125b_self_contained_error_propagation
●ISO-TC213-WG10_N1378_DIS_10360-13_rev_226
●ISO-TC213-WG10_N1383_WG_10-Resolutions_48th_meeting_Queretaro_2020
第43回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第43回総会
日時：2019年11月18日（月） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館2階 5203セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
３．講演：「３Dスキャン現場のリアルな計測事情」
４．話題提供：
「レーザ光による6軸運動計測-CWレーザ・フェトム秒レーザの
特性とその応用」
５．その他
資料：
●第43回総会議事次第
●ISO-TC213-WG_ N1362__WG_10_ Resolutions_47th_meeting_Berlin_2019~rev1
●ISO-TC213-WG10_N1340_190910a_Part13TF_report
●ISO-TC213-WG10_N1342_DIS_10360-13_20190910a_rev_19_1_2019-09-10
●レーザ光による６軸運動計測-CWレーザ・フェトム秒レーザの特性とその応用
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第43回総会
日時：2019年11月18日（月） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館2階 5203セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
３．講演：「３Dスキャン現場のリアルな計測事情」
４．話題提供：
「レーザ光による6軸運動計測-CWレーザ・フェトム秒レーザの
特性とその応用」
５．その他
資料：
●第43回総会議事次第
●ISO-TC213-WG_ N1362__WG_10_ Resolutions_47th_meeting_Berlin_2019~rev1
●ISO-TC213-WG10_N1340_190910a_Part13TF_report
●ISO-TC213-WG10_N1342_DIS_10360-13_20190910a_rev_19_1_2019-09-10
●レーザ光による６軸運動計測-CWレーザ・フェトム秒レーザの特性とその応用
第42回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第42回総会
日時：2019年6月17日（月） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階 1204教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
３．ドイツ・コントロールショーにおける技術動向紹介
４．会員からの話題提供：
「QIF 規格への対応」
５．その他
資料：
●第42回総会議事次第
●非直交形 CMS の ISO 標準課活動報告
●WD 10360-13 （２０１９年４月３０日版）
●ドイツ・コントロール展における技術動向紹介
●QIF 規格と JEITA 普通幾何公差への対応
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第42回総会
日時：2019年6月17日（月） 10時00分～13時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階 1204教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形座標測定システムの ISO 標準化活動報告
３．ドイツ・コントロールショーにおける技術動向紹介
４．会員からの話題提供：
「QIF 規格への対応」
５．その他
資料：
●第42回総会議事次第
●非直交形 CMS の ISO 標準課活動報告
●WD 10360-13 （２０１９年４月３０日版）
●ドイツ・コントロール展における技術動向紹介
●QIF 規格と JEITA 普通幾何公差への対応
第41回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第41回総会
日時：2019年3月19日（火） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館9階 1909教室
内容：
１．あいさつ
２．平成 30 年度活動報告
３．非直交光学式座標測定システムの ISO 標準化活動進捗報告
４．平成 30 年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．平成 31 年度活動予定
７．話題提供：
「3D 非接触式座標測定機の性能評価法の確立にむけた研究開発」
-光学式形状計測センサーの色依存性の検証および透過色による反射色
の代替え可能性の解明-
「JIS B 0684-1：2018 製品の幾何特性使用 (GPS) -平面度- 第1部：用語
及びパラメータ」と検査用基準平面について
８．その他
資料：
●第41回総会議事次第
●第14年度決算報告
●平成30年度活動報告・平成31年度活動予定
●ISO TC213 WG10 CERN 会議報告資料
●3D 非接触式座標測定機の性能評価法の確立にむけた研究開発
●JIS B 0684-1：2018 と検査用基準平面について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第41回総会
日時：2019年3月19日（火） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館9階 1909教室
内容：
１．あいさつ
２．平成 30 年度活動報告
３．非直交光学式座標測定システムの ISO 標準化活動進捗報告
４．平成 30 年度決算報告
５．来年度の事業継続に関する審議
６．平成 31 年度活動予定
７．話題提供：
「3D 非接触式座標測定機の性能評価法の確立にむけた研究開発」
-光学式形状計測センサーの色依存性の検証および透過色による反射色
の代替え可能性の解明-
「JIS B 0684-1：2018 製品の幾何特性使用 (GPS) -平面度- 第1部：用語
及びパラメータ」と検査用基準平面について
８．その他
資料：
●第41回総会議事次第
●第14年度決算報告
●平成30年度活動報告・平成31年度活動予定
●ISO TC213 WG10 CERN 会議報告資料
●3D 非接触式座標測定機の性能評価法の確立にむけた研究開発
●JIS B 0684-1：2018 と検査用基準平面について
第40回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第40回総会
日時：2018年12月12日（水） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館2階 5203教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交光学式座標測定システムの ISO 標準化活動進捗報告
３．非直交光学式座標測定システムの CD 投票 （国内コメント〆切:12/21) について
４．非直交光学式座標測定システムの CD 投票ドラフト内容説明
５．ISO 10360 シリーズにおける分解能の評価について
６．その他
資料：
●第40回総会議事次第
●ISO / CD 10360-13 ( CD 投票中ドラフト )
●ISO / CD 投票ドラフトについて
●ISO 10360 シリーズにおける分解能の評価について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第40回総会
日時：2018年12月12日（水） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館2階 5203教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交光学式座標測定システムの ISO 標準化活動進捗報告
３．非直交光学式座標測定システムの CD 投票 （国内コメント〆切:12/21) について
４．非直交光学式座標測定システムの CD 投票ドラフト内容説明
５．ISO 10360 シリーズにおける分解能の評価について
６．その他
資料：
●第40回総会議事次第
●ISO / CD 10360-13 ( CD 投票中ドラフト )
●ISO / CD 投票ドラフトについて
●ISO 10360 シリーズにおける分解能の評価について
第39回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第39回総会
日時：2018年7月10日（火） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館6階 2602教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗報告
３．ドイツ・コントロールショーににおける技術動向紹介
４．会員からの話題提供：
公設研における非接触座標測定の活用
幾何公差評価実証実験について
５．その他
資料：
●第39回総会議事次第
●長さ測定誤差の検出感度について(VDI会議プレゼン資料）
●WD10360-13（2018年7月3日暫定版）
●3Dプリンタでの造形を前提とした図面指示規格について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第39回総会
日時：2018年7月10日（火） 13時30分～17時00分
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館6階 2602教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗報告
３．ドイツ・コントロールショーににおける技術動向紹介
４．会員からの話題提供：
公設研における非接触座標測定の活用
幾何公差評価実証実験について
５．その他
資料：
●第39回総会議事次第
●長さ測定誤差の検出感度について(VDI会議プレゼン資料）
●WD10360-13（2018年7月3日暫定版）
●3Dプリンタでの造形を前提とした図面指示規格について
第38回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第38回総会
日時：2018年3月19日（月） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館 2階 1206セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．平成29年度活動報告
３．平成29年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成30年度活動予定
６．非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．会員からの話題提供：
JEITA 実証実用分科会報告
非接触 CMS を使用した幾何公差評価法標準処理ガイドライン（仮）について
その他
資料：
●第38回総会議事次第
●第13年度決算報告
●平成29年度活動報告・平成30年度活動予定
●ISO TC213 WG10 ロンドン会議報告資料
●適合性評価事業活動報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第38回総会
日時：2018年3月19日（月） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館 2階 1206セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．平成29年度活動報告
３．平成29年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成30年度活動予定
６．非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．会員からの話題提供：
JEITA 実証実用分科会報告
非接触 CMS を使用した幾何公差評価法標準処理ガイドライン（仮）について
その他
資料：
●第38回総会議事次第
●第13年度決算報告
●平成29年度活動報告・平成30年度活動予定
●ISO TC213 WG10 ロンドン会議報告資料
●適合性評価事業活動報告
第37回総会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第37回総会
日時：2017年12月14日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館 2階 5204セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗活動報告・ ISO 会議報告
３．適合性評価事業活動報告
４．測定技術標準化活動紹介
５．話題提供：
JEITA 実用分科会活動について
６．その他
資料：
●第37回総会議事次第
● ISO 10360-13（光学式非直交 CMS ） 投票関係資料
1） ISO TC213 WG10 東京会議 Resolution
2） NP Ballot ： ISO/NP 10360-13 Cover page
3） NP Ballot ： ISO 10360-13 ドラフト
● Characterisation Artefacts for Optiocal 3D CMS
● Test procedure for Optical 3D CMS-German test results-
● Status report of Optical 3D CMS TF
●適合性評価事業活動報告
●測定技術標準化活動紹介
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第37回総会
日時：2017年12月14日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 5号館 2階 5204セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗活動報告・ ISO 会議報告
３．適合性評価事業活動報告
４．測定技術標準化活動紹介
５．話題提供：
JEITA 実用分科会活動について
６．その他
資料：
●第37回総会議事次第
● ISO 10360-13（光学式非直交 CMS ） 投票関係資料
1） ISO TC213 WG10 東京会議 Resolution
2） NP Ballot ： ISO/NP 10360-13 Cover page
3） NP Ballot ： ISO 10360-13 ドラフト
● Characterisation Artefacts for Optiocal 3D CMS
● Test procedure for Optical 3D CMS-German test results-
● Status report of Optical 3D CMS TF
●適合性評価事業活動報告
●測定技術標準化活動紹介
第36回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第36回総会
日時：2017年7月5日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館 2階 1205セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗活動報告
３．米国における極座標式 3D イメージングシステム の精度評価法標準化紹介
４．適合性評価事業活動報告
５．話題提供：
幾何公差評価実証実験について
６．ISO／TC 213／WG 10 東京会議（2017/8/29-9/1）について
７．その他
資料：
●第36回総会議事次第
●10360_3D-CMS: at VDI meeting
●10360_3D-CMS: at VDI meeting - Color -
●米国における極座標式 3D イメージングシステムの精度評価法開発
●適合性評価事業活動報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第36回総会
日時：2017年7月5日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館 2階 1205セミナー室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗活動報告
３．米国における極座標式 3D イメージングシステム の精度評価法標準化紹介
４．適合性評価事業活動報告
５．話題提供：
幾何公差評価実証実験について
６．ISO／TC 213／WG 10 東京会議（2017/8/29-9/1）について
７．その他
資料：
●第36回総会議事次第
●10360_3D-CMS: at VDI meeting
●10360_3D-CMS: at VDI meeting - Color -
●米国における極座標式 3D イメージングシステムの精度評価法開発
●適合性評価事業活動報告
第35回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第35回総会
日時：2017年3月16日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館 5階 2501教室
内容：
１．あいさつ
２．平成28年度活動報告
３．平成28年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成29年度活動予定
６．非直交系CMMのISO標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．話題提供：
非接触測定機による幾何公差評価の同等性検証について
その他
資料：
●第35回総会議事次第
●第12年度決算報告
●平成28年度活動報告・平成29年度活動予定
●非直交形非接触座標測定機のISO標準化
●Working Draft 10360-13
●適合性評価事業活動報告
●非接触測定機による幾何公差評価の同等性検証
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第35回総会
日時：2017年3月16日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館 5階 2501教室
内容：
１．あいさつ
２．平成28年度活動報告
３．平成28年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成29年度活動予定
６．非直交系CMMのISO標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．話題提供：
非接触測定機による幾何公差評価の同等性検証について
その他
資料：
●第35回総会議事次第
●第12年度決算報告
●平成28年度活動報告・平成29年度活動予定
●非直交形非接触座標測定機のISO標準化
●Working Draft 10360-13
●適合性評価事業活動報告
●非接触測定機による幾何公差評価の同等性検証
第34回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第34回総会
日時：2016年12月14日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1204教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形CMMのISO標準化活動報告
３．適合性評価事業活動報告
４．ポイントクラウドデータと設計値との標準的な照合評価手順の検討について
５．技術紹介：幾何公差ソフトの照会
６．その他
話題提供：幾何公差検証測定例集の中間報告ならびに実証活動の照会
非接触CMM精度評価球について
資料：
● 第34回総会議事次第
● 非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
● 適合性評価事業活動報告
● 照合評価手順案について
● 講演資料-1
● 講演資料-2
● 非接触 CMM 精度評価用球について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第34回総会
日時：2016年12月14日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1204教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形CMMのISO標準化活動報告
３．適合性評価事業活動報告
４．ポイントクラウドデータと設計値との標準的な照合評価手順の検討について
５．技術紹介：幾何公差ソフトの照会
６．その他
話題提供：幾何公差検証測定例集の中間報告ならびに実証活動の照会
非接触CMM精度評価球について
資料：
● 第34回総会議事次第
● 非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
● 適合性評価事業活動報告
● 照合評価手順案について
● 講演資料-1
● 講演資料-2
● 非接触 CMM 精度評価用球について
第33回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第33回総会
日時：2016年7月20日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2504教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形CMMのISO標準化活動進捗報告
３．3D3プロジェクト紹介
４．三次元データを介した設計／製造／計測／検査の連携プロジェクト紹介
５．技術紹介：非接触CMM精度評価用球
６．その他
話題提供：NPL Free form artefactの紹介/National Freeform Centre 訪問
資料：
● 第33回総会議事次第
● 非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗について
● 3D3 プロジェクト概要
● 連携プロジェクト紹介資料
● NPL Free form artefact
● NPL National Freeform Centre 訪問報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第33回総会
日時：2016年7月20日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2504教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交形CMMのISO標準化活動進捗報告
３．3D3プロジェクト紹介
４．三次元データを介した設計／製造／計測／検査の連携プロジェクト紹介
５．技術紹介：非接触CMM精度評価用球
６．その他
話題提供：NPL Free form artefactの紹介/National Freeform Centre 訪問
資料：
● 第33回総会議事次第
● 非直交形 CMM の ISO 標準化活動進捗について
● 3D3 プロジェクト概要
● 連携プロジェクト紹介資料
● NPL Free form artefact
● NPL National Freeform Centre 訪問報告
第32回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第32回総会
日時：2016年3月11日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2501教室
内容：
１．あいさつ
２．平成 27 年度活動報告
３．平成 27 年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成 28 年度活動予定
６．非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．講演：「幾何公差の普及状況と非接触三次元測定への期待」 プラーナー・木下様
９．その他
案内：「幾何公差測定事例集 作成について」JEITA・重田様
資料：
● 第32回総会議事次第
● 第11年度決算報告
● 平成27年度活動報告及び平成28年度活動方針
● 非直交形非接触座標測定機の ISO 標準化
● 適合性評価事業活動報告
● 講演資料：幾何公差の普及状況と非接触三次元測定への期待
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第32回総会
日時：2016年3月11日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2501教室
内容：
１．あいさつ
２．平成 27 年度活動報告
３．平成 27 年度決算報告
４．来年度の事業継続に関する審議
５．平成 28 年度活動予定
６．非直交形 CMM の ISO 標準化活動報告
７．適合性評価事業活動報告
８．講演：「幾何公差の普及状況と非接触三次元測定への期待」 プラーナー・木下様
９．その他
案内：「幾何公差測定事例集 作成について」JEITA・重田様
資料：
● 第32回総会議事次第
● 第11年度決算報告
● 平成27年度活動報告及び平成28年度活動方針
● 非直交形非接触座標測定機の ISO 標準化
● 適合性評価事業活動報告
● 講演資料：幾何公差の普及状況と非接触三次元測定への期待
第31回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第31回総会
日時：2015年12月2日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2901教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交型CMMのISO標準化活動報告
３．適合性評価事業活動報告
４．点群データからのデータム面導出法に関する最近の提案紹介
ISO/TC 213/AG 12（Mathematical support group より）
５．講演：「QIF summit での議論と日本の取り組み（仮題）」 JEITA 相馬様
６．その他
資料：
● 第31回総会議事次第
● 適合性評価事業活動報告
● 点群データからのデータム面導出法に関する最近の提案紹介
● 講演資料：QIF summit での議論と日本の取り組み
● 技術資料：Light Low Diving Ceramics（黒崎播磨様提供）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第31回総会
日時：2015年12月2日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2901教室
内容：
１．あいさつ
２．非直交型CMMのISO標準化活動報告
３．適合性評価事業活動報告
４．点群データからのデータム面導出法に関する最近の提案紹介
ISO/TC 213/AG 12（Mathematical support group より）
５．講演：「QIF summit での議論と日本の取り組み（仮題）」 JEITA 相馬様
６．その他
資料：
● 第31回総会議事次第
● 適合性評価事業活動報告
● 点群データからのデータム面導出法に関する最近の提案紹介
● 講演資料：QIF summit での議論と日本の取り組み
● 技術資料：Light Low Diving Ceramics（黒崎播磨様提供）
第30回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第30回総会
日時：2015年7月29日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2505教室
内容：
１．あいさつ
２．産総研組織名称変更に伴う会則改訂（決議）
３．JIS B 7440-8 の発行について
４．非直交型CMMのISO標準化活動報告
５．講演：「最近の光三次元計測の動向から」 NPO法人 三次元工学会 吉澤先生
講演：「2015年度 Control 展の報告」 メトロテック様
６．その他
講演：「設計者の意識革命をもたらす非接触３Ｄ測定技術の進化」
株式会社プラ－ナー 木下悟志様
測定計測展（2015/09/16-18，東京ビッグサイト） 自動車技術ゾーンセミナーについて
資料：
● 第30回総会議事次第
● 第30回総会議事録
● コンソーシアム会則改定案
● コンソーシアム会則改定案②
● JIS B 7440-8 発行について
● 非直交形非接触座標測定機の ISO 標準化
● 講演資料：設計者の意識改革をもたらす非接触３D測定技術の進化
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第30回総会
日時：2015年7月29日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2505教室
内容：
１．あいさつ
２．産総研組織名称変更に伴う会則改訂（決議）
３．JIS B 7440-8 の発行について
４．非直交型CMMのISO標準化活動報告
５．講演：「最近の光三次元計測の動向から」 NPO法人 三次元工学会 吉澤先生
講演：「2015年度 Control 展の報告」 メトロテック様
６．その他
講演：「設計者の意識革命をもたらす非接触３Ｄ測定技術の進化」
株式会社プラ－ナー 木下悟志様
測定計測展（2015/09/16-18，東京ビッグサイト） 自動車技術ゾーンセミナーについて
資料：
● 第30回総会議事次第
● 第30回総会議事録
● コンソーシアム会則改定案
● コンソーシアム会則改定案②
● JIS B 7440-8 発行について
● 非直交形非接触座標測定機の ISO 標準化
● 講演資料：設計者の意識改革をもたらす非接触３D測定技術の進化
第29回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第29回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第28回総会
日時：2015年3月20日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1224教室
内容：
１．平成26年度活動報告
２．来年度の事業継続に関する審議
３．平成27年度活動予定
４．非直交非接触CMMのISO標準化：2015年ロンドン会議報告
５．講演：「歯科用CAD/CAMシステムの現状と今後について－計測技術は歯科医療の未来を変えられるか？－」 デジタルプロセス㈱ 間瀬様
６．会員からの講演：
3Dスキャナーの新規アプリケーション 丸紅情報システムズ 赤羽様
７．その他
JEITAからのお知らせ
資料：
● 第29回総会議事次第
● 平成26年度活動報告及び平成27年度活動予定
● 平成26年度予算報告
● ISO 10360 part ONCCMS progress report
● NonCartesian opt CMM German remarks
● Form calculations for optical scanning instruments
● 歯科用CAD/CAMシステムの現状と今後について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第29回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第28回総会
日時：2015年3月20日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1224教室
内容：
１．平成26年度活動報告
２．来年度の事業継続に関する審議
３．平成27年度活動予定
４．非直交非接触CMMのISO標準化：2015年ロンドン会議報告
５．講演：「歯科用CAD/CAMシステムの現状と今後について－計測技術は歯科医療の未来を変えられるか？－」 デジタルプロセス㈱ 間瀬様
６．会員からの講演：
3Dスキャナーの新規アプリケーション 丸紅情報システムズ 赤羽様
７．その他
JEITAからのお知らせ
資料：
● 第29回総会議事次第
● 平成26年度活動報告及び平成27年度活動予定
● 平成26年度予算報告
● ISO 10360 part ONCCMS progress report
● NonCartesian opt CMM German remarks
● Form calculations for optical scanning instruments
● 歯科用CAD/CAMシステムの現状と今後について
第28回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第28回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第27回総会
日時：2014年12月11日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館3階2301教室
内容：
１．非接触CMM関連ISO・JIS進捗報告
２．P25テストの算出法に関する検討
３．会員からの講演
米国における測定（品質管理）の標準化"QIF"とQVIグループ最新情報のご紹介 QVIジャパン様
４．QIFの概要説明
５．JEITAへの協力について
６．その他
資料：
● 第28回総会議事次第
● 10360-ONCCMS
● Request for WG10/SPTF
● 米国における(品質管理)の標準化“QIF”と QVI グループ最新情報のご紹介
● 製造品質データのための新しい相互運用性のある標準化
● ANSI/QIF Part 1:201X
● Quality Information Framework Standard について
● JEITA 実証プロジェクトとITツール検討WG 計測領域の活動について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第28回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第27回総会
日時：2014年12月11日（木） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館3階2301教室
内容：
１．非接触CMM関連ISO・JIS進捗報告
２．P25テストの算出法に関する検討
３．会員からの講演
米国における測定（品質管理）の標準化"QIF"とQVIグループ最新情報のご紹介 QVIジャパン様
４．QIFの概要説明
５．JEITAへの協力について
６．その他
資料：
● 第28回総会議事次第
● 10360-ONCCMS
● Request for WG10/SPTF
● 米国における(品質管理)の標準化“QIF”と QVI グループ最新情報のご紹介
● 製造品質データのための新しい相互運用性のある標準化
● ANSI/QIF Part 1:201X
● Quality Information Framework Standard について
● JEITA 実証プロジェクトとITツール検討WG 計測領域の活動について
第27回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第27回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第26回総会
日時：2014年7月30日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1206室
内容：
１．JEITAとの共同研究について JEITA様
２．非直交型CMMのISO標準化活動
３．分解能評価試験について
４．会員からの講演
－ポータブル型3D形状計測装置P3Dとその応用 ニコン様
－2014年度Control展の報告 メトロテック様
５．その他
資料：
● 第27回総会議事次第
● JEITAとの共同研究について
● 3D単独図の効能と課題
● 非接触非直交CMMのISO化
● 分解能評価試験について
● 経過報告 ISO 10360-8 持ち回りについて
● ポータブル型3D形状計測装置P3Dとその応用
● P3Dカタログ
● 第28回コントロールショー2014
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第27回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第26回総会
日時：2014年7月30日（水） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 1号館2階1206室
内容：
１．JEITAとの共同研究について JEITA様
２．非直交型CMMのISO標準化活動
３．分解能評価試験について
４．会員からの講演
－ポータブル型3D形状計測装置P3Dとその応用 ニコン様
－2014年度Control展の報告 メトロテック様
５．その他
資料：
● 第27回総会議事次第
● JEITAとの共同研究について
● 3D単独図の効能と課題
● 非接触非直交CMMのISO化
● 分解能評価試験について
● 経過報告 ISO 10360-8 持ち回りについて
● ポータブル型3D形状計測装置P3Dとその応用
● P3Dカタログ
● 第28回コントロールショー2014
第26回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第26回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第25回総会
日時：2014年3月14日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2502室
内容：
１．H25年度事業報告及び会計報告
２．来年度事業継続に関する審議とH26年度事業予定
３．JIS7440-8の進捗について
４．ISO10360-8持回り測定の中間報告
５．分解能テストに関する報告
６．JEITA実証プロジェクト報告
７．その他
資料：
● 第26回総会議事次第
● H25活動報告及びH26活動方針
● 第9年度決算報告
● JIS B 7440-8 改訂進捗
● JIS B 7440-8 改訂ドラフト
● ISO 10360-8 持回り測定途中報告
● JEITA実証プロジェクト報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第26回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第25回総会
日時：2014年3月14日（金） 13時30～17時00
場所：東京電機大学 北千住校舎 2号館5階2502室
内容：
１．H25年度事業報告及び会計報告
２．来年度事業継続に関する審議とH26年度事業予定
３．JIS7440-8の進捗について
４．ISO10360-8持回り測定の中間報告
５．分解能テストに関する報告
６．JEITA実証プロジェクト報告
７．その他
資料：
● 第26回総会議事次第
● H25活動報告及びH26活動方針
● 第9年度決算報告
● JIS B 7440-8 改訂進捗
● JIS B 7440-8 改訂ドラフト
● ISO 10360-8 持回り測定途中報告
● JEITA実証プロジェクト報告
第25回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第25回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第24回総会
日時：2013年12月9日（月） 13時30～17時00
場所：産業技術総合研究所つくばセンター ３－９棟３階会議室
内容：
１．ISO/JIS化の進捗報告 産総研
２．ISO10360-8の実証持回り測定について 産総研
３．分解能試験に関して 産総研，各参加会員
４．その他
-JEITA金型実証プロジェクト関連 ニコン様
資料：
● 第25回総会議事次第
● JIS B7441改正の経過報告
● JIS B 7440-8規格ドラフト
● 分解能器物の測定トライアル報告
● 経過報告ISO 10360-8持ち回りについて
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第25回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第24回総会
日時：2013年12月9日（月） 13時30～17時00
場所：産業技術総合研究所つくばセンター ３－９棟３階会議室
内容：
１．ISO/JIS化の進捗報告 産総研
２．ISO10360-8の実証持回り測定について 産総研
３．分解能試験に関して 産総研，各参加会員
４．その他
-JEITA金型実証プロジェクト関連 ニコン様
資料：
● 第25回総会議事次第
● JIS B7441改正の経過報告
● JIS B 7440-8規格ドラフト
● 分解能器物の測定トライアル報告
● 経過報告ISO 10360-8持ち回りについて
第24回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第24回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第23回総会
日時：2013年7月30日（火） 13時30～17時00
場所：東京電機大学１号館２階，２０６室 （北千住校舎）
内容：
１．ISO/FIDS10360-8及びJIS B 7441規格進捗状況報告 産総研
２．JEITA実証プロジェクト報告 JEITA 稲城様
３．分解能テスト及びISO 10360-8に基づく持ち回り測定について 産総研
４．光の写りこみの少ない平面板について 黒崎播磨様、産総研
５．Control展の報告 ケン・オートメーション 澤様
資料：
● 第24回総会議事次第
● 第24回総会議事録
● ISO/FIDS10360-8及びJIS B 7441規格進捗状況報告
● JEITA実証プロジェクト報告
● 分解能テストについて
● ISO 10360-8に基づく持ち回り測定について
● L-TEX製品紹介
● L-TEX製平面板測定結果（小坂研究所）
● L-TEX製平面板測定結果（オプトン）
● L-TEX製平面板測定結果（原製作所）
● L-TEX製平面板測定結果（丸紅情報システムズ）
● Control展の報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第24回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第23回総会
日時：2013年7月30日（火） 13時30～17時00
場所：東京電機大学１号館２階，２０６室 （北千住校舎）
内容：
１．ISO/FIDS10360-8及びJIS B 7441規格進捗状況報告 産総研
２．JEITA実証プロジェクト報告 JEITA 稲城様
３．分解能テスト及びISO 10360-8に基づく持ち回り測定について 産総研
４．光の写りこみの少ない平面板について 黒崎播磨様、産総研
５．Control展の報告 ケン・オートメーション 澤様
資料：
● 第24回総会議事次第
● 第24回総会議事録
● ISO/FIDS10360-8及びJIS B 7441規格進捗状況報告
● JEITA実証プロジェクト報告
● 分解能テストについて
● ISO 10360-8に基づく持ち回り測定について
● L-TEX製品紹介
● L-TEX製平面板測定結果（小坂研究所）
● L-TEX製平面板測定結果（オプトン）
● L-TEX製平面板測定結果（原製作所）
● L-TEX製平面板測定結果（丸紅情報システムズ）
● Control展の報告
第23回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第23回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第22回総会
日時：2013年3月22日（火） 10時00～12時30
場所：東京電機大学２号館５階，２５０１室 （北千住校舎）
次第：
１．今年度の事業・決算報告及び来年度事業予定・継続意志確認
２．ISO/FDIS 10360-8の対応及びISOベルリン会議報告
３．JEITA実証プロジェクトについて JEITA稲城様
４．黒崎播磨製4インチ球製作と測定（予定）
５．分解能テストに向けて
６．ISO 10360-9の説明
７．その他
資料：
● 第23回総会議事次第
● 第23回総会議事録
● 平成24年度活動報告及び平成25年度活動予定
● 第8年度決算報告
● WG10ベルリン会議報告
● 進捗報告 FDIS 10360-8
● JIS B7442改正について
● 分解能テストについて
● NEXCERATM4インチ球製作と測定
● JEITA 三次元CAD情報標準化専門委員会 実証プロジェクトについて
● ISO/DIS 10360-10: GPS-Acceptance and reverification tests for CMS-Part10 Laser trackers for measuring point-to-point distances
● ISO/CD 10360-AA: GPS-Acceptance and verification tests for articulated arm CMM
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第23回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第22回総会
日時：2013年3月22日（火） 10時00～12時30
場所：東京電機大学２号館５階，２５０１室 （北千住校舎）
次第：
１．今年度の事業・決算報告及び来年度事業予定・継続意志確認
２．ISO/FDIS 10360-8の対応及びISOベルリン会議報告
３．JEITA実証プロジェクトについて JEITA稲城様
４．黒崎播磨製4インチ球製作と測定（予定）
５．分解能テストに向けて
６．ISO 10360-9の説明
７．その他
資料：
● 第23回総会議事次第
● 第23回総会議事録
● 平成24年度活動報告及び平成25年度活動予定
● 第8年度決算報告
● WG10ベルリン会議報告
● 進捗報告 FDIS 10360-8
● JIS B7442改正について
● 分解能テストについて
● NEXCERATM4インチ球製作と測定
● JEITA 三次元CAD情報標準化専門委員会 実証プロジェクトについて
● ISO/DIS 10360-10: GPS-Acceptance and reverification tests for CMS-Part10 Laser trackers for measuring point-to-point distances
● ISO/CD 10360-AA: GPS-Acceptance and verification tests for articulated arm CMM
第22回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第22回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第21回総会
日時：2012年12月11日（火） 13時30～
場所：産総研 臨海副都心センター別館11F 11207室（第二会議室）
内容：
１．ISO/DIS 10360-8投票後の状況及びISOマドリード会議報告 産総研
２．講演：研究開発、故障解析をサポートする最新のX線技術 島津製作所 夏原様 ３．X-CTによる寸法測定の現状 産総研
４．講演：光コムレーザを用いた形状計測技術の開発 日立製作所 針山様
５．会員講演；光波干渉による真球度測定 ミツトヨ 横山様
６．その他
資料：
● 第22回総会議事次第
● TC213/WG10 マドリッド会議報告 産総研
● 最新のX線技術 島津製作所
● X-CTによる寸法測定の現状 産総研
● 光コムレーザを用いた形状計測技術の開発 日立製作所
● 光波干渉計による真球度測定 ミツトヨ
● JEITA実証プロジェクト計画案 コニカミノルタ
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第22回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第21回総会
日時：2012年12月11日（火） 13時30～
場所：産総研 臨海副都心センター別館11F 11207室（第二会議室）
内容：
１．ISO/DIS 10360-8投票後の状況及びISOマドリード会議報告 産総研
２．講演：研究開発、故障解析をサポートする最新のX線技術 島津製作所 夏原様 ３．X-CTによる寸法測定の現状 産総研
４．講演：光コムレーザを用いた形状計測技術の開発 日立製作所 針山様
５．会員講演；光波干渉による真球度測定 ミツトヨ 横山様
６．その他
資料：
● 第22回総会議事次第
● TC213/WG10 マドリッド会議報告 産総研
● 最新のX線技術 島津製作所
● X-CTによる寸法測定の現状 産総研
● 光コムレーザを用いた形状計測技術の開発 日立製作所
● 光波干渉計による真球度測定 ミツトヨ
● JEITA実証プロジェクト計画案 コニカミノルタ
第21回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第21回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第20回総会
日時：2012年7月31日（火） 14時～17時30分
場所：東京電機大学 東京千住キャンパス １２０６セミナー室
議題：
１．ISO動向報告と本年度の計画 産総研
２．フォトグラメトリWG報告 立命館大学徐教授
３．JEITA報告 コニカミノルタ稲城様
４．講演：（仮）非接触CMM測定のデータ処理 東京大学鈴木教授
５．会員からの報告：
5.1 セラミックス大球測定について オプトン様，等
5.2 ドイツControl展示会報告 メトロテック榎本様
６．その他
資料：
● 第21回総会議事次第
● ISO動向報告と本年度計画
● ホトグラメトリWG活動報告
● JEITA持ち回り測定報告
● 局所形状推定を用いた表面スキャン点群の品質評価指標
● 4inchゲージ球測定比較
● 基準球計測結果
● 標準球測定結果報告
● Dimensional X線CT装置の更なる活用に向けた新しいデータ処理技術
● ドイツControl展示会
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第21回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第20回総会
日時：2012年7月31日（火） 14時～17時30分
場所：東京電機大学 東京千住キャンパス １２０６セミナー室
議題：
１．ISO動向報告と本年度の計画 産総研
２．フォトグラメトリWG報告 立命館大学徐教授
３．JEITA報告 コニカミノルタ稲城様
４．講演：（仮）非接触CMM測定のデータ処理 東京大学鈴木教授
５．会員からの報告：
5.1 セラミックス大球測定について オプトン様，等
5.2 ドイツControl展示会報告 メトロテック榎本様
６．その他
資料：
● 第21回総会議事次第
● ISO動向報告と本年度計画
● ホトグラメトリWG活動報告
● JEITA持ち回り測定報告
● 局所形状推定を用いた表面スキャン点群の品質評価指標
● 4inchゲージ球測定比較
● 基準球計測結果
● 標準球測定結果報告
● Dimensional X線CT装置の更なる活用に向けた新しいデータ処理技術
● ドイツControl展示会
第20回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第20回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第19回総会
日時：2012年3月23日（金） 13:00~16:30
場所：東京電機大学神田校舎本館2階216室
議題：
１．フォトグラメトリWG報告 （立命館大学 徐先生）
２．ISOシャーロット会議報告 （産総研 大澤）
３．JIS改訂について （産総研 大澤）
４．JEITA持ち回り報告 （JEITA 稲城様）
５．本年度事業報告
５．１ 活動内容
５．２ 予算
６．来年度事業継続審議
７．来年度活動方針審議
７．JEITA持ち回り測定報告
８．その他
話題提供：AACMM評価について（日産自動車 青柳様） 資料：
● 第20回総会議事次第
● ホトグラメトリWG活動報告
● シャーロット会議出張報告書（PPTファイル）
● シャーロット会議出張報告書（wordファイル）
● ISO/DIS 10360-8(2nd DIS 投票用ドラフト)
● JEITA持ち回り測定報告
● 平成23年度活動報告
● 平成23年度決算報告
● 平成24年度活動方針
● 産総研における検査用標準球の形状校正変更案について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第20回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第19回総会
日時：2012年3月23日（金） 13:00~16:30
場所：東京電機大学神田校舎本館2階216室
議題：
１．フォトグラメトリWG報告 （立命館大学 徐先生）
２．ISOシャーロット会議報告 （産総研 大澤）
３．JIS改訂について （産総研 大澤）
４．JEITA持ち回り報告 （JEITA 稲城様）
５．本年度事業報告
５．１ 活動内容
５．２ 予算
６．来年度事業継続審議
７．来年度活動方針審議
７．JEITA持ち回り測定報告
８．その他
話題提供：AACMM評価について（日産自動車 青柳様） 資料：
● 第20回総会議事次第
● ホトグラメトリWG活動報告
● シャーロット会議出張報告書（PPTファイル）
● シャーロット会議出張報告書（wordファイル）
● ISO/DIS 10360-8(2nd DIS 投票用ドラフト)
● JEITA持ち回り測定報告
● 平成23年度活動報告
● 平成23年度決算報告
● 平成24年度活動方針
● 産総研における検査用標準球の形状校正変更案について
JEITA持ち回り測定研究会
日時：1月10日（火） 13時～17時
場所：東京大学本郷キャンパス内工学部11号館講堂
〒113-8656 東京都文京区本郷7－3－1
議事次第
１．開会の辞 産総研
２．JEITA持ち回り測定概要とまとめ JEITA稲城様 13:00～13:50
３．JEITA持ち回り測定参加機関発表
３．１ JEITA様ワークの持ち回り測定報告 ニコン 13:50～14:10
３．２ JEITA様持ち回り測定に関する報告 原製作所 14:10～14:30
３．３ JEITA様持ち回り測定に関する報告 パルステック工業 14:30～14:50
４．JEITA持ち回り測定データ処理関連機関発表
４．１ スキャン点群の評価指標に関する研究
東京大学 柴田周作，大竹豊，鈴木宏正 15:00～15:20
４．２ 持ち回りデータ処理 ラピッドフォーム・ジャパン 15:20～15:40
４．３ 非接触ＣＭＳの更なる普及に向けての取り組み QVIジャパン 15:40～16:00
４．４ 持ち回りデータ処理（デモ含む） アルモニコス 16:00～17:00
５．閉会の辞 産総研
資料：
● JEITA持ち回り測定報告
● JEITA様ワークの持ち回り測定報告
● JEITA様持ち回り測定に関する報告
● JEITA非接触測定
● スキャン点群の品質評価手法 中間報告
● 3次元データの自動計測での活用
● 非接触CMSの更なる普及に向けての取り組み
● 非接触測定データの処理結果
日時：1月10日（火） 13時～17時
場所：東京大学本郷キャンパス内工学部11号館講堂
〒113-8656 東京都文京区本郷7－3－1
議事次第
１．開会の辞 産総研
２．JEITA持ち回り測定概要とまとめ JEITA稲城様 13:00～13:50
３．JEITA持ち回り測定参加機関発表
３．１ JEITA様ワークの持ち回り測定報告 ニコン 13:50～14:10
３．２ JEITA様持ち回り測定に関する報告 原製作所 14:10～14:30
３．３ JEITA様持ち回り測定に関する報告 パルステック工業 14:30～14:50
４．JEITA持ち回り測定データ処理関連機関発表
４．１ スキャン点群の評価指標に関する研究
東京大学 柴田周作，大竹豊，鈴木宏正 15:00～15:20
４．２ 持ち回りデータ処理 ラピッドフォーム・ジャパン 15:20～15:40
４．３ 非接触ＣＭＳの更なる普及に向けての取り組み QVIジャパン 15:40～16:00
４．４ 持ち回りデータ処理（デモ含む） アルモニコス 16:00～17:00
５．閉会の辞 産総研
資料：
● JEITA持ち回り測定報告
● JEITA様ワークの持ち回り測定報告
● JEITA様持ち回り測定に関する報告
● JEITA非接触測定
● スキャン点群の品質評価手法 中間報告
● 3次元データの自動計測での活用
● 非接触CMSの更なる普及に向けての取り組み
● 非接触測定データの処理結果
第19回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第19回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第18回総会
日時：2011年10月20日（木）13:30~17:00
場所：東京電機大学神田校舎6号館3階６３０１教室
議題：
１．ISO北京会議報告
２．JEITA持ち回り測定報告
３．フォトグラメトリWG報告
４．会員からの講演
４．１ 大規模環境３次元計測装置の動向
４．２ 非接触３次元測定機OGP SmartScopeを代表すると米国QVIグル―プ製品の紹介
４．３ 産総研における検査用標準球の形状校正について
５．その他
資料：
● 議事次第
● ISO北京会議報告１
● ISO北京会議報告２
● ISO/TC213/WG北京会議Resolution
● JEIDA持ち回り測定報告
● 大規模環境３次元計測装置の動向
● 非接触３次元測定機OGP SmartScopeを代表とする米国QVIグル―プ製品の紹介
● 産総研における検査用標準球の形状校正について
● フォトグラメトリィWG報告
● 議事録
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第19回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第18回総会
日時：2011年10月20日（木）13:30~17:00
場所：東京電機大学神田校舎6号館3階６３０１教室
議題：
１．ISO北京会議報告
２．JEITA持ち回り測定報告
３．フォトグラメトリWG報告
４．会員からの講演
４．１ 大規模環境３次元計測装置の動向
４．２ 非接触３次元測定機OGP SmartScopeを代表すると米国QVIグル―プ製品の紹介
４．３ 産総研における検査用標準球の形状校正について
５．その他
資料：
● 議事次第
● ISO北京会議報告１
● ISO北京会議報告２
● ISO/TC213/WG北京会議Resolution
● JEIDA持ち回り測定報告
● 大規模環境３次元計測装置の動向
● 非接触３次元測定機OGP SmartScopeを代表とする米国QVIグル―プ製品の紹介
● 産総研における検査用標準球の形状校正について
● フォトグラメトリィWG報告
● 議事録
第18回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第18回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第17回総会
日時：平成23年5月24日（火）13:30~17:00
場所：東京電機大学神田校舎７号館１階７１０１教室（守衛室の裏手）
議題：
１．平成23年度活動予定報告
２．ISOパリ会議報告
３．フォトグラメトリWG報告
４．会員からの講演
4.1 非接触測定に於ける形状検査、リバースエンジニアリング時の問題点
（成宗製作所鈴木氏）
4.2 Metrologic solutionによる非接触三次元測定の取り組み
（三井造船システム技研 高橋氏）
５．その他
資料：
● 議事次第
● 平成22年度活動報告
● 平成23年度活動方針
● 非接触測定に於ける形状検査、リバースエンジニアリング時の問題点
● ホトグラメトリWG報告
● 議事録
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第18回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第17回総会
日時：平成23年5月24日（火）13:30~17:00
場所：東京電機大学神田校舎７号館１階７１０１教室（守衛室の裏手）
議題：
１．平成23年度活動予定報告
２．ISOパリ会議報告
３．フォトグラメトリWG報告
４．会員からの講演
4.1 非接触測定に於ける形状検査、リバースエンジニアリング時の問題点
（成宗製作所鈴木氏）
4.2 Metrologic solutionによる非接触三次元測定の取り組み
（三井造船システム技研 高橋氏）
５．その他
資料：
● 議事次第
● 平成22年度活動報告
● 平成23年度活動方針
● 非接触測定に於ける形状検査、リバースエンジニアリング時の問題点
● ホトグラメトリWG報告
● 議事録
下記の総会は、地震の影響で中止しました。
第18回総会案内
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第18回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第17回総会
資料として第6年度決算報告書を載せました。
資料：第6年度決算報告書
第18回総会案内
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第18回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第17回総会
資料として第6年度決算報告書を載せました。
資料：第6年度決算報告書
第17回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第17回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第16回総会
議題 日時：２０１０年１２月１０日（金） １３：３０～１７
場所：東京電機大学神田校舎7号館1階7101室
議事次第：
１．ISOプラハ会議報告とその後の動向 産総研
２．Rooftopゲージ測定によるフィルタ特性評価について
３．フォトグラメトリWG活動報告
４．講演：JEITAでの３D単独図推進活動と計測分野での活用について
コニカミノルタビジネステクノロジーズ 稲城正高氏
５．その他
資料
● 第17回総会議事次第
● ISOプラハ会議報告とその後の動向
● Rooftop artefactの測定によるフィルタ特性評価について
● JEITAでの3D単独図推進活動と計測分野での活用について
● 今後のコンソーシアム活動
● ISOプラハ会議出張報告書
● Study group discussion report for ISO 10360-8(2010.9.10)
● Study group discussion(Sep 11th) report for ISO 10360-8(2010.9.13)
● Geometrical Produuct Specifications(GPS)--Part AA:Acceptance and reverification tests for articulated arm coordinate measuring machines for measuring linear dimensions(WD)
● 高速動体形状計測のためのワンショット3次元形状計測法
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第17回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第16回総会
議題 日時：２０１０年１２月１０日（金） １３：３０～１７
場所：東京電機大学神田校舎7号館1階7101室
議事次第：
１．ISOプラハ会議報告とその後の動向 産総研
２．Rooftopゲージ測定によるフィルタ特性評価について
３．フォトグラメトリWG活動報告
４．講演：JEITAでの３D単独図推進活動と計測分野での活用について
コニカミノルタビジネステクノロジーズ 稲城正高氏
５．その他
資料
● 第17回総会議事次第
● ISOプラハ会議報告とその後の動向
● Rooftop artefactの測定によるフィルタ特性評価について
● JEITAでの3D単独図推進活動と計測分野での活用について
● 今後のコンソーシアム活動
● ISOプラハ会議出張報告書
● Study group discussion report for ISO 10360-8(2010.9.10)
● Study group discussion(Sep 11th) report for ISO 10360-8(2010.9.13)
● Geometrical Produuct Specifications(GPS)--Part AA:Acceptance and reverification tests for articulated arm coordinate measuring machines for measuring linear dimensions(WD)
● 高速動体形状計測のためのワンショット3次元形状計測法
第16回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第16回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第15回総会
日時：２０１０年７月２３日（火） １３：３０～１７：３０
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議事次第：
１．本年度活動方針 産総研
２．分解能テストの対応 産総研
３．ISO会議に向けた活動 産総研
４．フォトグラメトリWG活動報告 立命館大学 徐先生
５．ご講演：測定機ヘビーユーザーから見た、非接触３次元測定の活用事例と
今後への期待 （有）原製作所 原洋介氏
６．コンソーシアム会員様からの発表
６．１ ニコンメトロロジー社の製品・技術紹介 ニコン 圓谷様
６．２ 非接触三次元スキャナの計測手法の研究と実例 パルステック工業 高井様
６．３「Control Show（Stuttgart）」と「CIMES（北京）」で紹介されていた
非接触測定装置に関して ケン・オートメーション 矢尾板様
７． その他
資料
● 議事録
● 第16回総会議事次第
● 分解能テストとISO会議への今後の対応
● フォトグラメトリWG報告
● 原製作所様資料
● ニコンメトロロジー社の製品・技術紹介
● 非接触三次元スキャナの計測手法と研究と実例
● Control Show（Stuttgart）」と「CIMES（北京）」で紹介されていた非接触測定装置に関して
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第16回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第15回総会
日時：２０１０年７月２３日（火） １３：３０～１７：３０
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議事次第：
１．本年度活動方針 産総研
２．分解能テストの対応 産総研
３．ISO会議に向けた活動 産総研
４．フォトグラメトリWG活動報告 立命館大学 徐先生
５．ご講演：測定機ヘビーユーザーから見た、非接触３次元測定の活用事例と
今後への期待 （有）原製作所 原洋介氏
６．コンソーシアム会員様からの発表
６．１ ニコンメトロロジー社の製品・技術紹介 ニコン 圓谷様
６．２ 非接触三次元スキャナの計測手法の研究と実例 パルステック工業 高井様
６．３「Control Show（Stuttgart）」と「CIMES（北京）」で紹介されていた
非接触測定装置に関して ケン・オートメーション 矢尾板様
７． その他
資料
● 議事録
● 第16回総会議事次第
● 分解能テストとISO会議への今後の対応
● フォトグラメトリWG報告
● 原製作所様資料
● ニコンメトロロジー社の製品・技術紹介
● 非接触三次元スキャナの計測手法と研究と実例
● Control Show（Stuttgart）」と「CIMES（北京）」で紹介されていた非接触測定装置に関して
第15回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第15回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第14回総会
日時：２０１０年３月２６日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎6号館1階6201室
議題：
１．年度活動報告、会計報告（産総研）
２．次年度活動継続意思確認（産総研）
３．ISO規格状況報告（産総研）
４．非接触座標測定システムの海外動向（産総研）
５．ご講演：非接触三次元測定機による形状測定への取り組み
（株式会社UCHIDA 友田鉄夫氏）
６．コンソーシアム会員様からの発表
６．１ ゲージを介さない非接触3次元計測装置評価の試み
（産総研 デジタルものづくりセンター 石川様）
６．２ Rapidformによる３Dスキャンデータの有効活用
（ラピッドフォーム・ジャパン 並木様）
７． その他
面内分解能およびフィルター効果
（株式会社ニコンインスツルメンツカンパニー 圓谷様）
資料
● 議事録
● 第15回総会議事次第
● 本年度活動報告
● 本年度会計報告
● ISO 10360-8の審議状況
● Form Calculation for 10360-8
● プロービングテストについての考察
● 非接触座標測定システムの海外動向
● 非接触三次元測定機による形状測定への取り組み
● ゲージを介さない非接触3次元計測装置評価の試み
● Repidformによる3Dスキャンデータの有効活用
● 面内分解能およびフィルター評価
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第15回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第14回総会
日時：２０１０年３月２６日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎6号館1階6201室
議題：
１．年度活動報告、会計報告（産総研）
２．次年度活動継続意思確認（産総研）
３．ISO規格状況報告（産総研）
４．非接触座標測定システムの海外動向（産総研）
５．ご講演：非接触三次元測定機による形状測定への取り組み
（株式会社UCHIDA 友田鉄夫氏）
６．コンソーシアム会員様からの発表
６．１ ゲージを介さない非接触3次元計測装置評価の試み
（産総研 デジタルものづくりセンター 石川様）
６．２ Rapidformによる３Dスキャンデータの有効活用
（ラピッドフォーム・ジャパン 並木様）
７． その他
面内分解能およびフィルター効果
（株式会社ニコンインスツルメンツカンパニー 圓谷様）
資料
● 議事録
● 第15回総会議事次第
● 本年度活動報告
● 本年度会計報告
● ISO 10360-8の審議状況
● Form Calculation for 10360-8
● プロービングテストについての考察
● 非接触座標測定システムの海外動向
● 非接触三次元測定機による形状測定への取り組み
● ゲージを介さない非接触3次元計測装置評価の試み
● Repidformによる3Dスキャンデータの有効活用
● 面内分解能およびフィルター評価
第14回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第14回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第13回総会
日時：２００９年１２月８日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎7号館1階7101室
議題：
１．ISO 10360-8の審議状況 産総研（大澤）
２．JIS検査法に基づく国内持ち回り測定 産総研（大澤）
３．海外の非接触測定情勢 産総研（佐藤）
４．講演会:ポイントオートフォーカス式非接触輪郭形状測定器（MLP-2）
三鷹光器 三浦勝弘様
５．コンソーシアム会員様からの発表
５．１ 欧州の自動車生産ラインにおけるインライン全数
非接触計測に関して ケン・オートメーション 矢尾板様
５．２ JIS原案に基づいた非接触座標測定器の精度評価
アイシン精機 野村様
５．３ 話題提供：非接触3D計測技術への期待と要望 トヨタ自動車 青野様
６．その他
資料
● 議事録
● 議事次第
● ISO 10360-8の審議状況
● ISO 10360-8コメントに対する日本の返答
● JIS検査法国内持ち回り測定
● 海外の非接触測定情勢－ＮＰＬ非接触ＣＭＭ関連報告－
● 三浦様資料
● 矢尾板様資料
● 野村様資料
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第14回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第13回総会
日時：２００９年１２月８日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎7号館1階7101室
議題：
１．ISO 10360-8の審議状況 産総研（大澤）
２．JIS検査法に基づく国内持ち回り測定 産総研（大澤）
３．海外の非接触測定情勢 産総研（佐藤）
４．講演会:ポイントオートフォーカス式非接触輪郭形状測定器（MLP-2）
三鷹光器 三浦勝弘様
５．コンソーシアム会員様からの発表
５．１ 欧州の自動車生産ラインにおけるインライン全数
非接触計測に関して ケン・オートメーション 矢尾板様
５．２ JIS原案に基づいた非接触座標測定器の精度評価
アイシン精機 野村様
５．３ 話題提供：非接触3D計測技術への期待と要望 トヨタ自動車 青野様
６．その他
資料
● 議事録
● 議事次第
● ISO 10360-8の審議状況
● ISO 10360-8コメントに対する日本の返答
● JIS検査法国内持ち回り測定
● 海外の非接触測定情勢－ＮＰＬ非接触ＣＭＭ関連報告－
● 三浦様資料
● 矢尾板様資料
● 野村様資料
第13回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第13回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第12回総会
日時：２００９年７月３０日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議題：
１．JIS，ISOの進捗状況報告 産総研
２．フォトグラメトリWG発足について 産総研
３．光学表面特性に関する講演 村上色彩研究所 近藤
４．コンソーシアム会員より講演等 ケーズデザインラボ 高村
５．その他
資料
● 議事録
● 第13回総会議事次第
● ISO,JISの進捗状況報告
● ISO/CD 10360-8 Optical distance sensors
● JIS B 7441 非接触座標測定機の受入検査及び定期検査
● フォトグラメトリWGの設置
● 光学表面特性に関する講演資料
● ボールバー測定結果報及び漆平面の光学表面特性評価
● 面間距離評価法の必要性
● 任意形状ゲージについて
● NPL Centre for Freeform Measurement and Analysis
● Form and Vision Machine verification artefacts
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第13回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第12回総会
日時：２００９年７月３０日（火） １３：３０～
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議題：
１．JIS，ISOの進捗状況報告 産総研
２．フォトグラメトリWG発足について 産総研
３．光学表面特性に関する講演 村上色彩研究所 近藤
４．コンソーシアム会員より講演等 ケーズデザインラボ 高村
５．その他
資料
● 議事録
● 第13回総会議事次第
● ISO,JISの進捗状況報告
● ISO/CD 10360-8 Optical distance sensors
● JIS B 7441 非接触座標測定機の受入検査及び定期検査
● フォトグラメトリWGの設置
● 光学表面特性に関する講演資料
● ボールバー測定結果報及び漆平面の光学表面特性評価
● 面間距離評価法の必要性
● 任意形状ゲージについて
● NPL Centre for Freeform Measurement and Analysis
● Form and Vision Machine verification artefacts
第12回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第12回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第11回総会
日時：２００９年３月２３日（火） １３：００～１７：００
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議事：
１. 非接触CMMに関する規格化の動向（ISO,JIS）の動向 産総研
２. 今後のコンソーシアム運営に関して 産総研
３. ノイズ除去に関する講演 依頼中
４. コンソーシアム会員からの講演 成宗製作所様
５. コンソーシアム会員からの講演 未定（エントリー受付中）
６. その他
資料
● 議事録
● 第12回総会議事次第
● コンソーシアム決算報告書
● 「非接触CMMに関する規格化の動向
● ISO10360-X Optical distance sensors
● 今後のコンソーシアム運営に関して
● ノイズの大きい大規模点群データの平滑化
● タイ国製造業における非接触測定～リバースエンジニアリング事情
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第12回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第11回総会
日時：２００９年３月２３日（火） １３：００～１７：００
場所：東京電機大学神田校舎6号館6201室
議事：
１. 非接触CMMに関する規格化の動向（ISO,JIS）の動向 産総研
２. 今後のコンソーシアム運営に関して 産総研
３. ノイズ除去に関する講演 依頼中
４. コンソーシアム会員からの講演 成宗製作所様
５. コンソーシアム会員からの講演 未定（エントリー受付中）
６. その他
資料
● 議事録
● 第12回総会議事次第
● コンソーシアム決算報告書
● 「非接触CMMに関する規格化の動向
● ISO10360-X Optical distance sensors
● 今後のコンソーシアム運営に関して
● ノイズの大きい大規模点群データの平滑化
● タイ国製造業における非接触測定～リバースエンジニアリング事情
第11回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第11回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第10回総会
場所：
日時：２００８年１２月１６日（火）
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館２階６４０１教室
議題：
１）ISO/TC213における審議動向
２）JIS原案の動向
３）本年度の活動報告と今後の予定
４）産総研におけるCMM関連事業紹介
５）法人会員様からのプレゼン
６）新法人会員様のプレゼン 小坂研究所様
７）その他
資料
● ISO/TC213審議とJIS原案動向
● 本年度の活動報告と今後の予定
● 検討課題 提案（パルステック工業株式会社）
● 会社紹介「株式会社 小坂研究所」
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第11回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第10回総会
場所：
日時：２００８年１２月１６日（火）
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館２階６４０１教室
議題：
１）ISO/TC213における審議動向
２）JIS原案の動向
３）本年度の活動報告と今後の予定
４）産総研におけるCMM関連事業紹介
５）法人会員様からのプレゼン
６）新法人会員様のプレゼン 小坂研究所様
７）その他
資料
● ISO/TC213審議とJIS原案動向
● 本年度の活動報告と今後の予定
● 検討課題 提案（パルステック工業株式会社）
● 会社紹介「株式会社 小坂研究所」
第10回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第10回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第9回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館２階６２０１教室
日時：２００８年７月２９日（火）１３時より
議題：
１．講演：秋山雅弘 様（株式会社アルモニコス） 「デジタルイノベーションにおけるデジタイザの位置づけ」
２．講演：田中秀幸 様（産総研） 「実機を用いた測定データからの不確かさの算出法」
３．WG報告
４．その他
資料：
● 議事次第
● デジタルイノベーションにおけるデジタイザの位置づけ
● 実機を用いた測定データからの不確かさ算出法
● 日産自動車における非接触3D面形状計測器の選定手順
● 平成20年度に事業について
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第10回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第9回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館２階６２０１教室
日時：２００８年７月２９日（火）１３時より
議題：
１．講演：秋山雅弘 様（株式会社アルモニコス） 「デジタルイノベーションにおけるデジタイザの位置づけ」
２．講演：田中秀幸 様（産総研） 「実機を用いた測定データからの不確かさの算出法」
３．WG報告
４．その他
資料：
● 議事次第
● デジタルイノベーションにおけるデジタイザの位置づけ
● 実機を用いた測定データからの不確かさ算出法
● 日産自動車における非接触3D面形状計測器の選定手順
● 平成20年度に事業について
第9回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第９回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第８回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６２０１教室
日時：２００８年３月２６日（水）１３時より 議題：
１．本年度事業報告
・JIS原案作成作業報告
・ISO活動報告
２．会計報告及び承認作業
３．次年度事業意思確認作業
４．来年度事業について
５．その他
資料：
● 議事次第
● JIS原案
● ISO TC213/WG10 ワーキングドラフト
● 経済産業省基準認証制度研究開発事業、外注報告
● 平成19年度コンソーシアム事業報告
● 標準アーティファクト研究WG 活動報告
● 不確かさWGの報告
● 平成19年度コンソーシアム会計報告
● 来年度の事業について
● 議事録
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第９回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第８回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６２０１教室
日時：２００８年３月２６日（水）１３時より 議題：
１．本年度事業報告
・JIS原案作成作業報告
・ISO活動報告
２．会計報告及び承認作業
３．次年度事業意思確認作業
４．来年度事業について
５．その他
資料：
● 議事次第
● JIS原案
● ISO TC213/WG10 ワーキングドラフト
● 経済産業省基準認証制度研究開発事業、外注報告
● 平成19年度コンソーシアム事業報告
● 標準アーティファクト研究WG 活動報告
● 不確かさWGの報告
● 平成19年度コンソーシアム会計報告
● 来年度の事業について
● 議事録
第8回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第８回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第７回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６３０１教室
日時：２００７年１２月１２日（水） １３時３０分～１７時
議事： （資料閲覧は会員限定）
１．工業規格化の進捗状況（資料１、資料２、資料３、資料４）
２．平面基準板測定報告（各参加機関）
株式会社TEMCO
株式会社ミツトヨ
パルステック工業株式会社（資料）
トヨタ自動車株式会社（資料１、資料２、資料３）
株式会社ソアテック（資料）
３．各WG報告
標準アーティファクト研究WG（資料）
４．新法人会員紹介（株式会社スペースビジョン）（資料）
５．その他（資料）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第８回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第７回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６３０１教室
日時：２００７年１２月１２日（水） １３時３０分～１７時
議事： （資料閲覧は会員限定）
１．工業規格化の進捗状況（資料１、資料２、資料３、資料４）
２．平面基準板測定報告（各参加機関）
株式会社TEMCO
株式会社ミツトヨ
パルステック工業株式会社（資料）
トヨタ自動車株式会社（資料１、資料２、資料３）
株式会社ソアテック（資料）
３．各WG報告
標準アーティファクト研究WG（資料）
４．新法人会員紹介（株式会社スペースビジョン）（資料）
５．その他（資料）
第7回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第７回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第６回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６４０１教室
日時：２００７年８月１日（水） １３時３０分～１７時
議事： （資料閲覧は会員限定）
１．VDIに基づく持ち回り測定報告（資料） 産総研 大澤尊光、佐藤理
２．参加機関によるVDIに基づく持ち回り測定報告
株式会社浜野エンジニアリング（資料）
株式会社ミツトヨ（資料）
浜松ホトニクス株式会社（資料）
ローランドディージー株式会社（資料）
株式会社アルネアラボラトリ（資料）
東京貿易テクノシステム株式会社（資料）
３．JIS原案（第3案）についての説明（資料） 産総研 大澤、佐藤
４．非接触CMMに適応する性能評価ゲージの開発（資料）
岩手県工業技術センター和合健氏
５．光学的表面性状パラメータ（資料）
東京電機大学 工学部教授 古谷涼秋先生
６．ホトグラメトリ評価法規格の必要性（資料）
立命館大学教授・（株）三次元メディア代表取締役 徐剛先生
７．その他
精度評価検査について 産総研 佐藤理（資料）
ISOTS23165Introductionの和訳について（資料）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第７回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第６回総会
場所：東京電機大学 神田キャンパス６号館４階６４０１教室
日時：２００７年８月１日（水） １３時３０分～１７時
議事： （資料閲覧は会員限定）
１．VDIに基づく持ち回り測定報告（資料） 産総研 大澤尊光、佐藤理
２．参加機関によるVDIに基づく持ち回り測定報告
株式会社浜野エンジニアリング（資料）
株式会社ミツトヨ（資料）
浜松ホトニクス株式会社（資料）
ローランドディージー株式会社（資料）
株式会社アルネアラボラトリ（資料）
東京貿易テクノシステム株式会社（資料）
３．JIS原案（第3案）についての説明（資料） 産総研 大澤、佐藤
４．非接触CMMに適応する性能評価ゲージの開発（資料）
岩手県工業技術センター和合健氏
５．光学的表面性状パラメータ（資料）
東京電機大学 工学部教授 古谷涼秋先生
６．ホトグラメトリ評価法規格の必要性（資料）
立命館大学教授・（株）三次元メディア代表取締役 徐剛先生
７．その他
精度評価検査について 産総研 佐藤理（資料）
ISOTS23165Introductionの和訳について（資料）
第6回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第５回総会
・日時：２月２０日（火） １３：３０～１７：００
・場所：東京電機大学（神田校舎） ６号館６３０１
・議事録（会員のみ閲覧可）
・資料（会員のみ閲覧可）
● H18-6-1 総会議事次第
● H18-6-2 平成18年度会計報告
● H18-6-3 2006年12月韓国出張報告
● H18-6-4 韓国出張報告
● H18-6-5 Activities on the consortium of standardization for evaluating non-contact type coordinate measuring machines (Abstract)
● H18-6-6 Activities on the consortium of standardization for evaluating non-contact type coordinate measuring machines (for presentation)
● H18-6-7 2007年1月ドイツ出張報告書
● H18-6-8 ドイツ出張報告
● H18-6-9 New work item proposal 1 (Testing of CMM with optical distance sensors)
● H18-6-10 Geometrical Product Specifications (GPS) . Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) Part X: CMMs with optical distance sensors
● H18-6-11 What's different between VDI2617 and the draft
● H18-6-12 VDI2634-3 ドラフト和訳
● H18-6-13 Tests and artefacts for determining the structural resolution of optical distance sensors for coordinate measurement (proceeding)
● H18-6-14 Tests and artefacts for determining the structural resolution of optical distance sensors for coordinate measurement (for presentation)
● H18-6-15 JISB XXXX：光学式非接触座標測定機の受入検査及び定期検査 第１部：面測定を行う測定機
● H18-6-16 JIS原案とVDI2634-2との違い
● 持ち回り計測報告（丸紅ソリューション）
● 持ち回り計測報告（東京精密）
● 持ち回り計測報告（パルステック）
● 持ち回り計測報告（ソアテック）
● 持ち回り計測報告（コニカミノルタセンシング）
● ドイツGOM社におけるVDI/VDEガイドラインへの取組み（丸紅ソリューション 赤羽孝彦）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第６回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第５回総会
・日時：２月２０日（火） １３：３０～１７：００
・場所：東京電機大学（神田校舎） ６号館６３０１
・議事録（会員のみ閲覧可）
・資料（会員のみ閲覧可）
● H18-6-1 総会議事次第
● H18-6-2 平成18年度会計報告
● H18-6-3 2006年12月韓国出張報告
● H18-6-4 韓国出張報告
● H18-6-5 Activities on the consortium of standardization for evaluating non-contact type coordinate measuring machines (Abstract)
● H18-6-6 Activities on the consortium of standardization for evaluating non-contact type coordinate measuring machines (for presentation)
● H18-6-7 2007年1月ドイツ出張報告書
● H18-6-8 ドイツ出張報告
● H18-6-9 New work item proposal 1 (Testing of CMM with optical distance sensors)
● H18-6-10 Geometrical Product Specifications (GPS) . Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) Part X: CMMs with optical distance sensors
● H18-6-11 What's different between VDI2617 and the draft
● H18-6-12 VDI2634-3 ドラフト和訳
● H18-6-13 Tests and artefacts for determining the structural resolution of optical distance sensors for coordinate measurement (proceeding)
● H18-6-14 Tests and artefacts for determining the structural resolution of optical distance sensors for coordinate measurement (for presentation)
● H18-6-15 JISB XXXX：光学式非接触座標測定機の受入検査及び定期検査 第１部：面測定を行う測定機
● H18-6-16 JIS原案とVDI2634-2との違い
● 持ち回り計測報告（丸紅ソリューション）
● 持ち回り計測報告（東京精密）
● 持ち回り計測報告（パルステック）
● 持ち回り計測報告（ソアテック）
● 持ち回り計測報告（コニカミノルタセンシング）
● ドイツGOM社におけるVDI/VDEガイドラインへの取組み（丸紅ソリューション 赤羽孝彦）
第5回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第４回総会
・月日：２００６年１１月１４日（火）
・時間：１３時３０分～１７時
・場所：東京電機大学6号館6301教室
・議事：
１．非接触CMMコンソーシアム進捗状況報告 （産総研大澤）
２．コンソーシアムワーキンググループ活動報告 （各WG担当幹事）
３．VDIに基づく持ち回り測定報告
・本田技術研究所
・トーメンテクノソリューションズ（データのみ提出）
・オプトン
・トプコン
・浜野エンジニアリング
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● 議事録
● コンソーシアム進捗状況報告
● 不確かさWG活動報告
● 持ち回り測定報告（本田技術研究所１、本田技術研究所２、トーメンテクノソリューションズ、オプトン、トプコン、浜野エンジニアリング）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第５回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第４回総会
・月日：２００６年１１月１４日（火）
・時間：１３時３０分～１７時
・場所：東京電機大学6号館6301教室
・議事：
１．非接触CMMコンソーシアム進捗状況報告 （産総研大澤）
２．コンソーシアムワーキンググループ活動報告 （各WG担当幹事）
３．VDIに基づく持ち回り測定報告
・本田技術研究所
・トーメンテクノソリューションズ（データのみ提出）
・オプトン
・トプコン
・浜野エンジニアリング
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● 議事録
● コンソーシアム進捗状況報告
● 不確かさWG活動報告
● 持ち回り測定報告（本田技術研究所１、本田技術研究所２、トーメンテクノソリューションズ、オプトン、トプコン、浜野エンジニアリング）
第4回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第４回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第３回総会
・月日：２００６年６月２８日（水）
・時間：１４時３０分～１７時
・場所：（独）産業技術総合研究所 つくば中央第３
・議事： 記事録
１．法人会員からの発表（球測定結果、VDI測定について）
２．VDIに基づく持ち回り測定 産総研 大澤尊光
３．非接触測定機に適用できる球製作について
（株）本田技術研究所 原田龍太郎氏
４．光学的測定における表面性状に関する考察
（株）オプトン 林洋一氏
５．ワーキンググループの設置について
６．会長交代について
７．トレーサビリティについて 産総研 高辻利之
８．光学的表面特性測定について
東京電機大学 古谷涼秋教授
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● VDI/VDE2634要約
● VDI 2617 Part6.2 要約
● 産総研所有CMMにて測定した球の値
● VDI実証試験用アーティファクト
● VDIに基づく持ち回り測定
● 測定結果報告（浜松ホトニクス、トヨタ自動車、オプトン、コニカミノルタセンシング、本田技術研究所、パルステック工業、浜野エンジニアリング、東京精密、トプコン、東京貿易テクノシステム、丸紅ソリューション、アルネアラボラトリ、ミツトヨ、ソアテック）
● ２“球の製作経過と下地のテスト
● 光学的測定における表面性状に関する考察
● ワーキンググループの設置
● ISO 10360-6 & JIS B 7440-6
● 日本のトレーサビリティーについて
● 測定対象の特性値
● 接触式ＣＭＭの不確かさ推定（PDF:4.2MB）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第４回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第３回総会
・月日：２００６年６月２８日（水）
・時間：１４時３０分～１７時
・場所：（独）産業技術総合研究所 つくば中央第３
・議事： 記事録
１．法人会員からの発表（球測定結果、VDI測定について）
２．VDIに基づく持ち回り測定 産総研 大澤尊光
３．非接触測定機に適用できる球製作について
（株）本田技術研究所 原田龍太郎氏
４．光学的測定における表面性状に関する考察
（株）オプトン 林洋一氏
５．ワーキンググループの設置について
６．会長交代について
７．トレーサビリティについて 産総研 高辻利之
８．光学的表面特性測定について
東京電機大学 古谷涼秋教授
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● VDI/VDE2634要約
● VDI 2617 Part6.2 要約
● 産総研所有CMMにて測定した球の値
● VDI実証試験用アーティファクト
● VDIに基づく持ち回り測定
● 測定結果報告（浜松ホトニクス、トヨタ自動車、オプトン、コニカミノルタセンシング、本田技術研究所、パルステック工業、浜野エンジニアリング、東京精密、トプコン、東京貿易テクノシステム、丸紅ソリューション、アルネアラボラトリ、ミツトヨ、ソアテック）
● ２“球の製作経過と下地のテスト
● 光学的測定における表面性状に関する考察
● ワーキンググループの設置
● ISO 10360-6 & JIS B 7440-6
● 日本のトレーサビリティーについて
● 測定対象の特性値
● 接触式ＣＭＭの不確かさ推定（PDF:4.2MB）
第3回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第３回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第２回総会
・月日：２００６年３月２０日（月）
・時間：13:30 - 15:30
・場所：（独）産業技術総合研究所 臨海副都心センター
デジタルヒューマン研究センター
・会議：13:30 - 15:30 DHRC本館４階第１会議室
１．事業進捗状況報告
２．規格化進捗状況報告
３．ＮＭＩＪ計測クラブ紹介（産総研，永井）
４．事務
４．１．今年度事業と決算報告（会則１２条）
４．２．事業継続意思の確認（会則２０条）
４．３．規約改正について（会則１２条，１５条）
（負担金を「寄付金」から「会費」への変更）
５．来年度計画，他
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● 議事録
● コンソーシアム規約
● 第1年度決算報告書
● （お知らせ）メーリングリストについて
● Resolutions adopted at the 20th meeting of ISO/TC 213/WG 10
● Teting of CMM with optical distance sensors
● Some modifications may be included in possible 10360-8
● Future work on the standardization of non-contact type CMM
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第３回総会
非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第２回総会
・月日：２００６年３月２０日（月）
・時間：13:30 - 15:30
・場所：（独）産業技術総合研究所 臨海副都心センター
デジタルヒューマン研究センター
・会議：13:30 - 15:30 DHRC本館４階第１会議室
１．事業進捗状況報告
２．規格化進捗状況報告
３．ＮＭＩＪ計測クラブ紹介（産総研，永井）
４．事務
４．１．今年度事業と決算報告（会則１２条）
４．２．事業継続意思の確認（会則２０条）
４．３．規約改正について（会則１２条，１５条）
（負担金を「寄付金」から「会費」への変更）
５．来年度計画，他
＜資料＞（会員のみ閲覧）
● 議事録
● コンソーシアム規約
● 第1年度決算報告書
● （お知らせ）メーリングリストについて
● Resolutions adopted at the 20th meeting of ISO/TC 213/WG 10
● Teting of CMM with optical distance sensors
● Some modifications may be included in possible 10360-8
● Future work on the standardization of non-contact type CMM
第2回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第２回総会、非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第1回総会が、２００５年１１月８日（火）（独）産業技術総合研究所 臨海副都心センターのデジタルヒューマン研究センターにて開催されました。主な議題は以下の通りです。
１．NMIJ計測クラブについて
２．コンソーシアムとクラブの現状
３．精度評価方法標準化について（資料）
４．標準化の手順（資料（高辻会長））
５．表面処理検討用試料について
６．長さ検証用試料について
７．今後の予定，他
※予備試料用球に関する資料は、会員限定ページをご覧ください。
※議事録（会員限定）
※総会終了後、デジタルヒューマン研究センターを見学しました。（ 研究センターの研究概要）
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第２回総会、非接触三次元測定機測定アセスメントクラブ第1回総会が、２００５年１１月８日（火）（独）産業技術総合研究所 臨海副都心センターのデジタルヒューマン研究センターにて開催されました。主な議題は以下の通りです。
１．NMIJ計測クラブについて
２．コンソーシアムとクラブの現状
３．精度評価方法標準化について（資料）
４．標準化の手順（資料（高辻会長））
５．表面処理検討用試料について
６．長さ検証用試料について
７．今後の予定，他
※予備試料用球に関する資料は、会員限定ページをご覧ください。
※議事録（会員限定）
※総会終了後、デジタルヒューマン研究センターを見学しました。（ 研究センターの研究概要）
第1回総会報告
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第１回総会が、２００５年６月２日（木）東京国際フォーラム G602 会議室にて開催されました。主な議題は以下の通りです。
１．コンソーシアム会員紹介
２．コンソーシアム設立趣旨の説明（高辻産総研幾何標準研究室長）
３．今後の運営方針
４．役員選出
５．本コンソーシアム設立までの経緯説明及び質疑応答
(ア)現状説明（ I ）：各国の整備状況等
(イ)現状説明（ II ）：産業界での使用例と問題点
(ウ)現状説明（ III ）：学術的観点から
６．今後の方針説明と検討
(ア)規格化への方針
(イ)必要な実験について ７．その他
(ア)次回会合日程の決定
(イ)その他
光学式非接触三次元測定機精度評価法標準化コンソーシアム第１回総会が、２００５年６月２日（木）東京国際フォーラム G602 会議室にて開催されました。主な議題は以下の通りです。
１．コンソーシアム会員紹介
２．コンソーシアム設立趣旨の説明（高辻産総研幾何標準研究室長）
３．今後の運営方針
４．役員選出
５．本コンソーシアム設立までの経緯説明及び質疑応答
(ア)現状説明（ I ）：各国の整備状況等
(イ)現状説明（ II ）：産業界での使用例と問題点
(ウ)現状説明（ III ）：学術的観点から
６．今後の方針説明と検討
(ア)規格化への方針
(イ)必要な実験について ７．その他
(ア)次回会合日程の決定
(イ)その他