顔写真 | 役職および名前 | 研究テーマ | E-mail((at)を@に変換してください。) HP |
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研究グループ長
松ア 弘幸(MATSUZAKI Hiroyuki) |
超短パルスレーザーを用いた新規分光法の開発と光機能性材料・デバイスへの応用 | hiroyuki-matsuzaki(at)aist.go.jp | |
上級主任研究員
黒河 明(KUROKAWA Akira) |
表面分析法の高精度解析法の開発 | a-kurokawa(at)aist.go.jp | |
上級主任研究員
白澤 徹郎(SHIRASAWA Tetsuro) |
表面X線散乱技術の高度化と機能性材料の表面・界面分析 | t.shirasawa(at)aist.go.jp | |
主任研究員
寺内 信哉(TERAUCHI Shinya) |
表面分析用標準物質の開発 | s.terauchi(at)aist.go.jp | |
主任研究員
張 麓ルウ(CHOU Lulu) |
薄膜の表面分析及び膜厚計測, キログラム現示のためのSi球の表面分析, 生分解性マグネシウムの表面分析 | lulu.zhang(at)aist.go.jp | |
主任研究員
東 康史(AZUMA Yasushi) |
膜厚計測の高度化と標準物質の開発 | azuma.y(at)aist.go.jp | |
主任研究員
今村 元康(IMAMURA Motoyasu) |
放射光による表面分析 | motoyasu.imamura(at)aist.go.jp | |
主任研究員
加藤 晴久(KATO Haruhisa) |
ナノ材料の特性評価法の開発 | h-kato(at)aist.go.jp | |
主任研究員
細貝 拓也(Takuya HOSOKAI) |
材料・デバイス物性や機能発現をモニタリングする分光計測装置の開発 | t.hosokai(at)aist.go.jp | |
産総研特別研究員
東海林 良太(Ryota SHOJI) |
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産総研特別研究員
ドンガデ シッダント(DHONGADE Siddhabt) |
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テクニカルスタッフ
伊藤 美香(ITO Mika) |
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テクニカルスタッフ
中村 文子(NAKAMURA Ayako) |
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テクニカルスタッフ
伴野 秀邦(BANNO Hidekuni) |
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テクニカルスタッフ
塩野 かおり(Shiono Kaori) |
技術研修
1名(大学院生) |