AC-0029

高分子が石英などの無機固体と接した界面における官能基の配向状態を和周波発生分光法により解析した

・石英と高分子との界面にどのような官能基が存在するのか知りたい
・複数の成分を含む高分子材料について、どのような成分が界面に偏析しているのかを知りたい
・界面に存在する官能基の配向が、温度や外場によってどのように変わるかを知りたい

産総研中国センター
機能化学研究部門 有機材料診断グループ渡邊宏臣

研究者・グループ名鑑

事例に関するお問い合せ

石英基板/スチレンブタジエンゴム界面

和周波発生（SFG）分光法による

シリカ/ゴム界面のモデル系として石英基板とスチレンブタジエンゴムとの界面を和周波発生(SFG)分光法を用いて解析したところ、ブタジエン残基の＝CH2基およびCH=CH基が界面に存在・配向していることが明らかとなった。

SFG分光/顕微鏡システム SFG-CL-MIC （EKSPLA）

ゴム、非晶性樹脂等の有機材料と、石英およびCaF2基板との界面。スパッタあるいは蒸着により、酸化アルミニウム等の薄膜を基板上に作成して測定することも可能。