走査電子顕微鏡
特長・おすすめポイント！
- 使いやすく高分解能に加え、STEM検出器により透過撮影に対応
- 元素マッピング分析(EDX)や複数検出器を用いた多様な観測に対応
装置情報
| 概要 | 簡単な操作で固体表面を高倍率かつ高深度に撮影できる顕微鏡(SEM)で、直径15cmまでの試料に対応可能です。 |
|---|---|
| 形式 | SU8600 |
| メーカー | 日立ハイテク |
| 仕様 |
|
| [キーワード] | 固体表面、高倍率・高深度撮影、元素、測定、直径15cmまでの試料に対応 |
ナノマテリアル試作・評価プラットフォーム（NEPP）に関するお問合せ
国立研究開発法人産業技術総合研究所 東北センター
ナノマテリアル試作･評価プラットフォーム事務局
〒983-8551宮城県仙台市宮城野区苦竹4-2-1
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