TOP
概要
使用開始までの流れ
装置一覧
見学受付
チラシダウンロード
お問合せ
アクセス
ナノマテリアル試作・評価プラットフォーム
Nanomaterial Evaluation and Prototyping Platform
❮
25
❯
構造解析
走査電子顕微鏡
超高分解能・高コントラストな電子顕微鏡です
用途
低加速電圧、高分解能観察、高速元素マッピング
形式
SU8600
メーカー
日立ハイテク
仕様
二次電子分解能
0.6 nm@15 kV
倍率
20~2,000,000 x
加速電圧
0.5~30 kV
検出器
Upper、Lower 、Top、反射電子検出器、STEM
エネルギー分散型X線検出器 (EDS)装備
検出可能元素範囲
リチウムからビスマス
搭載試料サイズ
最大 Φ150 mm
装置一覧に戻る ❯