TOP 概要 使用開始までの流れ 装置一覧 見学受付 チラシダウンロード お問合せ アクセス
ナノマテリアル試作・評価プラットフォーム
Nanomaterial Evaluation and Prototyping Platform

構造解析

透過電子顕微鏡

透過電子顕微鏡イメージ
多彩なユーザーアシスト機能を備えた操作性の高い電子顕微鏡です
用途微小領域の内部及び表面の高分解能観察、画像解析
形式JEM-2100Plus
メーカーJEOL
仕様
粒子像分解能0.23 nm
格子像分解能0.14 nm
TEM倍率x2,000 ～ 1,500,000 (MAGモード)
x30 ～ 6,000 (LOW MAGモード)
STEM倍率x20,000 ～ 2,000,000 (MAGモード)
x100 ～15,000 (LOW MAGモード)
加速電圧80 - 200 kV
800万画素の高精細CCDカメラ＋sCMOSセンサーカメラ装備
エネルギー分散型X線分析装置（EDS）装備
Be ～ Uの元素マッピング可能