産総研：ナノマテリアル試作・評価プラットフォーム

透過電子顕微鏡

特長・おすすめポイント！

装置情報

概要	薄膜状試料のナノサイズの構造を直接観察できる高倍率な顕微鏡です。
形式	JEM-2100Plus
メーカー	JEOL
仕様	粒子像分解能 0.23 nm 格子像分解能 0.14 nm TEM倍率 x2,000 ～ 1,500,000 (MAGモード) x30 ～ 6,000 (LOW MAGモード) STEM倍率 x20,000 ～ 2,000,000 (MAGモード) x100 ～15,000 (LOW MAGモード) 加速電圧 80 - 200 kV 800万画素の高精細CCDカメラ+sCMOSセンサーカメラ装備エネルギー分散型X線分析装置（EDS）装備 Be ～ Uの元素マッピング可能
[キーワード]	薄膜状試料、高倍率、ナノスケール、STEM、元素分布

国立研究開発法人産業技術総合研究所東北センター
ナノマテリアル試作･評価プラットフォーム事務局

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