ANCF

 

tia-nano logotia-nano logo

2024年2月20日更新

     

産総研先端ナノ計測施設(ANCF)は産総研共用施設の一翼を担うと同時に、TIA(オープンイノベーション拠点)の共用施設ネットワーク、 産総研ナノプロセシング施設(NPF)とともに文部科学省のマテリアル先端リサーチインフラ事業(ARIM)にも参画し、両制度の併用で全国からの計測要望に幅広くお応えしています。


  <あなたの試料を測ります!!お気軽にお問合せください>




 

 


New
ご利用方法

ANCF施設は2月20日(火)より、令和6年度の課題登録の受付を開始します。
次年度、ANCFのご利用を予定されている方は、課題申請の「申請年度」をプルダウンより「2024年度」と選択していただき、申請願います。 継続でご利用を検討されている方は、「ご利用方法」をクリックして、【継続】課題申請の手順[ PDF形式」をご覧ください。
令和5年度と利用者の変更の無い課題を申請される外部利用に於きましては、3月22日までに手続きを行っていただければ人材登録の更新が可能です(履歴情報の提出が不要となります)。
「ご利用方法」をクリックして、課題申請の手順[ PDF形式」をご覧ください。


約款

「国立研究開発法人 産業技術総合研究所共用施設等利用約款」 が2024年1月26日に改正されました。

New
お知らせ

ANCFの今年度の1~3月の所内利用分は翌年度交付金払いとします。
どうしても、今年度予算(交付金および外部資金)で利用したい場合は、 対応可能かどうか個別に判断いたしますので、 12月11日(月)までに ANCF事務局にご相談下さい。

New
お知らせ

ご利用の皆様には大変申し訳ございませんが、ただいま、可視・近赤外過渡吸収分光装置群のうち(3)ピコ秒可視蛍光寿命計測装置(旧・ANCF005)が故障のため運用を中止いたしております。残念ながら復旧の見込みはたっておりませんので、ご承知おきください。他の装置で測定が可能かどうかについては装置担当者にご相談ください。

お知らせ
令和5年度の試行的利用(利用料と旅費の補助を行います)の申請受付は終了しました。
こちらから詳細をご覧ください。

ご利用方法

ANCF施設のご利用を検討されている方は、「ご利用方法」をクリックして、利用者登録の手順をご覧ください。

受賞・表彰


産総研 微細構造解析PF 石塚 知明が
「文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム 令和3年度技術スタッフ表彰
技術支援貢献賞」を受賞しました!

お知らせ

ARIMホームページがリニューアルされました!

変更後のURL こちらからご覧ください。

利用料金

「ANCF機器使用単価表」が2023年4月1日に改訂されました。
パンフレット

「産総研先端ナノ計測施設パンフレット 和英版」(2022.4)が出来ました。


産総研ANCFの概要

産総研先端ナノ計測施設(ANCF)による先端計測分析技術の開発と公開

産総研では、国内の産業力強化と新産業創出の先導や社会イノベーションへの貢献を目指して、先端計測分析技術の開発を実施しています。これまで見えなかったものを見えるようにする計測技術を創造し、次いで、それを各種の応用に適用して分析技術として仕上げることをミッションにしています。 これらを実現する手法として、開発した装置や技術を公開して、社会における課題の解決に挑戦しています。

公開は、産総研先端ナノ計測施設(AIST Nanocharacterization Facility: ANCF)にて実施しています。

 

    ---------公開機器----------
  1. 陽電子プローブマイクロアナライザー(PPMA)
  2. 超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)
  3. 可視-近赤外過渡吸収分光装置(VITA)
  4. リアル表面プローブ顕微鏡(RSPM)
  5. 固体NMR装置(SSNMR)
  6. 極端紫外光光電子分光装置(EUPS)
  7. 超伝導蛍光X線検出器付走査型電子顕微鏡(SC-SEM)

 

文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM) 

tia-nano logo

2021 年度より文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ事業(ARIM)が10 年計画で推進されています。ARIM はマテリアルの計測・分析・加工に関する最先端設備の共用とデータ収集・利活用のためのインフラを構築し、以って『マテリアルDX プラットフォーム』の一翼を担い、我が国のマテリアル革新 力の一層の強化を目指します。そのため、これまでのナノテクノロジープラットフォーム事業で構築した共用設備と高度な技術支援を提供する専門技術者集団の基盤を十分に活用しています。産総研先端ナノ計 測施設(ANCF)は産総研ナノプロセシング施設(NPF)とともにARIM に参画し、量子・電子マテリアルを中心とする最先端ナノ材料のデータ取得・分析・収集に取り組みます。

(代表機関:国立研究開発法人物質・材料研究機構)

産総研ANCF文部科学省マテリアル先端リサーチインフラ(ARIM)に参画しています。プラットフォーム参画の他の機関が公開している透過型電子顕微鏡(TEM)などの原子スケールのイメージング(木を見るナノ計測分析)に対して、産総研ANCFでは原子欠陥や特定の元素の回りの原子配位といった平均として得られるナノ情報を提供します(森を見るナノ計測分析)。

産総研ANCF 実施担当

     

 計量標準総合センター 分析計測標準研究部門

 計量標準総合センター 物質計測標準研究部門

 量子・AI融合技術ビジネス開発グローバル研究センター 量子デバイス研究チーム



事務局

     

 国立研究開発法人 産業技術総合研究所 計量標準総合センター

 分析計測標準研究部門 ANCF事務局


 〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 中央事業所2群 2-10棟

  Eメール:ancf-contact-ml[アット]aist.go.jp   ([アット]を@にして送信してください)




ページの先頭へ