光学特性分析装置
| プリズムカプラ (Metricon製, Model 2020) 仕様： 屈折率測定 屈折率範囲： 1 - 2.45 波長：452, 632.8, 832, 1545 nm 屈折率精度：薄膜 0.0001以上、 バルク 0.0003 評価物性： 屈折率 |
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| 真空紫外分光光度計 (分光計器製, VU-200) 仕様： 吸収スペクトル測定 波長：130-350nm 雰囲気：真空中 温度：Liq. N2 - 400℃ 評価物性： 分光透過率 |
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| フーリエ変換赤外分光光度計 (Nicolet製, Avater) 仕様： FT-IR 室温 雰囲気：空気 測定範囲：400～4000㎝-1 反射ユニット：入射角 約30°～約60° 評価物性： 透過率、反射率 |
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| 蛍光分光光度計 (日立ハイテクノロジー製, F7100) 仕様： 測定範囲：励起波長 200nm～800nm 蛍光波長 200nm～800nm 評価物性： 蛍光スペクトル、励起スペクトル、蛍光寿命 |
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| 複屈折測定装置 (大塚電子製, RETS-100) 仕様： 波長範囲： 300-1000nm サイズ： 最小20mmx20mm～最大100mmx100mm 性能：リタデーション 測定範囲（回転検光子法）：約0nm～数nm 測定範囲（光干渉法）：約450nm～数μm 評価物性： リタデーション（複屈折率） |
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