（株）住化分析センター（SCAS）は（国研）産業技術総合研究所のつくば中央事業所内に筑波サテライトラボを設置し、透過型電子顕微鏡（TEM）を中心とした分析、解析を受託しています。この度、隣接する産総研材料・化学領域　材料基盤研究部門（CTMI）と合同で、TEMによる材料分析に関するミニセミナーを企画しました。

本セミナーでは、TEMを用いた界面・微細構造解析の最前線を、SCAS, CTMI双方の視点から紹介します。近年、材料機能の高度化に伴い、ナノスケールでの構造・組成・界面状態の精密評価は、材料やデバイスの研究開発の成否を左右する重要な要素となっています。

最新の分析手法や事例紹介に加え、産総研、住化分析センター双方の実機見学を通じて具体的な活用イメージを深めていただきます。企業の材料研究者の皆様にとって、課題解決の新たな手段や外部連携のきっかけとなる機会です。

分析や材料開発の可能性を広げる場として、ぜひご参加ください。

TEMによる材料分析ミニセミナー

• 🔵 日時：2026年7月23日（木）　13:30-17:00
• 🔵 場所：（国研）産業技術総合研究所　
  つくば中央事業所　5-1-2201会議室　
  ／オンライン併用
• 産総研 - 交通アクセス：つくばセンター：つくば中央

オンライン会議リンク

参加者に別途連絡します。確認をしますので、アクセス時にはご所属とお名前がわかるようにしてください。

• 🔵 セミナーURL：https://unit.aist.go.jp/ctmi/CTMI_fetch_min/topics/event/masemi/index_20260723_mas.html
• 🔵 主催：（株）住化分析センター　/　国研）産業技術総合研究所　材料基盤研究部門
• 🔵 参加費：無料（要事前登録）
• 🔵 参加申込フォーム：下記入力フォームよりお申し込みください。



申込フォーム

プログラム

• ❇❇【開会の挨拶】❇❇
• 🟢 13:30-13:35　清水　禎樹
  （（国研）産業技術総合研究所　
  材料・化学領域　材料基盤研究部門　
  研究部門長）
• ❇❇【趣旨説明】❇❇
• 🟢 13:35-13:45　依田　智
  （（国研）産業技術総合研究所　
  材料・化学領域　材料基盤研究部門　
  副研究部門長）
• ❇❇【講演】❇❇
• 🟢 13:45-14:30　佐藤　雄太
  （（国研）産業技術総合研究所　
  材料・化学領域　材料基盤研究部門　
  微細構造評価グループ長）
• 「透過電子顕微鏡観察による低次元材料の微細構造評価」
• -（講演内容）-
• 当研究グループでは、非常に薄い物質の観察・分析に最適化した透過電子顕微鏡技術を応用し、材料の原子レベルでの構造可視化と物性・機能の実験的検証に取り組んでいます。各種のナノチューブ状物質をはじめとする一次元材料、原子膜や層状物質等の二次元材料など、いわゆる低次元材料を対象とした透過電子顕微鏡による微細構造評価の事例をご紹介します。
• 🟢 14:30-15:15　飯田　隆斗
  （（株）住化分析センター）
• 「新規TEMによる低電子線損傷観察事例　~役に立つ材料解析手法を目指して~」
• -（講演内容）-
• 住化分析センターは2023年11月に産総研つくば中央事業所内に電子顕微鏡分析に特化した筑波サテライトラボを開設、事業を開始いたしました。その際に新規導入したSTEMが備える低電子線損傷観察手法を使用した観察事例を紹介いたします。事例としては、OBF-STEM法を用いた低電子損傷観察に加え、クライオ観察、前処理での電子線損傷低減技術に関しても紹介いたします。
• 🟢 15:15-15:30　休憩
• 🟢 15:30-16:15　堀内　伸
  （（国研）産業技術総合研究所　
  材料・化学領域　材料基盤研究部門　
  接着・界面グループ）
• 「STEMによる接着界面の解析」
• -（講演内容）-
• 接着メカニズムの解明を目的とした、STEMによる接着界面の解析手法として、EELSによる化学構造識別, トモグラフィーによる３次元構造解析、破壊のその場観察を紹介します。
• ❇❇【総合討論】❇❇
• 🟢 16:15-16:25　
• ❇❇【閉会の挨拶】❇❇
• 🟢 16:25-16:30　野中　辰夫
  （（株）住化分析センター　理事
  　千葉ラボラトリー所長）
• ❇❇【見学会】❇❇
• 🟢 16:30-17:30　
  産総研5-2　⏩　産総研5-9　⏩　住化分析センター筑波サテライトラボ4-7（徒歩で移動します。）