和周波発生分光測定装置
| 可視光と赤外光を照射し、異なる媒体が接する境界面から発生する特異的な光を計測して、表面・界面の分子の挙動を選択的に計測します | |||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 用途 | 表面・界面の分子の挙動の選択的な測定 | ||||||||||
| 形式 | MQ-SFG-P1 | ||||||||||
| メーカー | MSHシステムズ | ||||||||||
| 仕様 |
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| 可視光と赤外光を照射し、異なる媒体が接する境界面から発生する特異的な光を計測して、表面・界面の分子の挙動を選択的に計測します | |||||||||||
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| 用途 | 表面・界面の分子の挙動の選択的な測定 | ||||||||||
| 形式 | MQ-SFG-P1 | ||||||||||
| メーカー | MSHシステムズ | ||||||||||
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