産業技術総合研究所 四国センター

高知県工業技術センター

分野 計測・分析
有機材料診断
機器名 走査電子顕微鏡
製造所名と形式 JSM-6701F  日本電子(株)
装置の概要 微小領域の観察、元素分析による試料最表面の微細な構造をより明瞭に観察でき、高倍率のSEM像を得ることが可能。
また、EDSを備えており、観察視野内の元素分析を行うことが可能。
仕様・構成 倍率:100~100,000倍
SEM像:二次電子像、反射電子像(組成像、凹凸像)
元素分析機能(EDS):B(ホウ素)より原子番号の大きい元素についてSEM視野での定性、定量分析が可能
設置年度 平成21年度
担当窓口 資源環境課
料金 3,470円/時間
備考 地域活性化・経済危機対策臨時交付金
全体写真 全体写真

   ご利用条件 プライバシーポリシー 関連リンク           Copyright c National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)
                                                          (Japan Corporate Number 7010005005425). All rights reserved.