産総研四国センター

香川県産業技術センター

分野 計測・分析
機器名 低真空電子画像解析装置
型式と製造所名 日本電子(株)
JCM-6000Plus
装置の概要 食品等の表面観察
仕様・構成 ・パソコンにより制御
・タッチパネルによる操作可能
・高感度反射電子検出器搭載
・倍率:6万倍まで
・最大試料寸法:70mm径 50mm高さ
・測長機能:2点間測長、角度測定
設置年度 平成28年度
担当窓口 食品研究所
料金 開放 1時間
料金 940 円
備考
全体写真 全体写真



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