| 分野 | 計測・分析 、 材料 |
|---|---|
| 有機材料診断 | |
| 機器名 | 光断層トログラフィー |
| 製造所名と形式 | IVS-300 santec㈱ |
| 装置の概要 | 陶磁器の釉薬層の断面を観察します。 |
| 仕様・構成 | 測定方法 : 波長走査型 深さ分解能 : ≤12μm 測定波長 : 1310±30 nm モニタ : 15インチタッチパネル |
| 設置年度 | 令和元年度 |
| 担当窓口 | 窯業技術センター |
| 料金 | 440円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 | ![]() |

| 分野 | 計測・分析 、 材料 |
|---|---|
| 有機材料診断 | |
| 機器名 | 光断層トログラフィー |
| 製造所名と形式 | IVS-300 santec㈱ |
| 装置の概要 | 陶磁器の釉薬層の断面を観察します。 |
| 仕様・構成 | 測定方法 : 波長走査型 深さ分解能 : ≤12μm 測定波長 : 1310±30 nm モニタ : 15インチタッチパネル |
| 設置年度 | 令和元年度 |
| 担当窓口 | 窯業技術センター |
| 料金 | 440円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 | ![]() |
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