分野 | 計測・分析 、 材料 |
---|---|
有機材料診断 | |
機器名 | 光断層トログラフィー |
製造所名と形式 | IVS-300 santec㈱ |
装置の概要 | 陶磁器の釉薬層の断面を観察します。 |
仕様・構成 | 測定方法 : 波長走査型 深さ分解能 : ≤12μm 測定波長 : 1310±30 nm モニタ : 15インチタッチパネル |
設置年度 | 令和元年度 |
担当窓口 | 窯業技術センター |
料金 | 440円/時間 |
備考 | |
全体写真 |
分野 | 計測・分析 、 材料 |
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有機材料診断 | |
機器名 | 光断層トログラフィー |
製造所名と形式 | IVS-300 santec㈱ |
装置の概要 | 陶磁器の釉薬層の断面を観察します。 |
仕様・構成 | 測定方法 : 波長走査型 深さ分解能 : ≤12μm 測定波長 : 1310±30 nm モニタ : 15インチタッチパネル |
設置年度 | 令和元年度 |
担当窓口 | 窯業技術センター |
料金 | 440円/時間 |
備考 | |
全体写真 |
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