分野 | 計測・分析 |
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有機材料診断 | |
機器名 | 高分解能観察装置(FE-SEM) |
製造所名と形式 | JSM-7610F 日本電子㈱ |
装置の概要 | 無機物、金属、ナノ材料等の微細表面の形状観察及び元素分析に使用します。 |
仕様・構成 | 観 察 倍 率 : 25~1,000,000倍 加速電圧 : 0.1~30kV(0.1kVステップ) 二次電子分解能 : 1.0nm(加速電圧15kV)、1.3nm(加速電圧1kV) X線分光器 : EDS 分析可能元素 : Be~U |
設置年度 | 平成28年度 |
担当窓口 | 技術開発部 |
料金 | 770円/時間 |
備考 | |
全体写真 | ![]() |