概 要
通信機器や電子機器の設計・製造および性能の保証において、電子回路やデバイスの特性であるインピーダンスや電磁波の伝播特性(散乱パラメータ、Sパラメータ) の測定は必須です。電磁気計測研究グループでは、これら特性について、kHzからTHzの領域に至る広周波数帯域における計測技術と計量標準の研究開発を行っています。 この取り組みにより、ベクトルネットワークアナライザによる高精度な測定を実現するとともに、産業分野でニーズの高い材料の誘電率等の電磁波特性評価技術 (写真:ミリ波帯(220 GHz ~ 330 GHz)材料の誘電率計測技術の例)や、電磁波吸収・遮蔽材料、平面回路、アクティブデバイスなどの計測および設計の技術研究開発にも取り組んでいます。 さらに、現場計測を想定した電磁波計測技術に基づく非接触・非破壊センシング技術の研究を行っています。