X線小角散乱 SAXS

測定原理

SAXS 原理モデル図
SAXS 原理モデル図

Small-Angle X-ray Scattering (X線小角散乱)により、 数度以下の小さな回折角に現れるX線の散乱・回折から、 試料中の電子密度ゆらぎの分布を反映したパターンが得られます。 パターンには、構成粒子の大きさ、形状、粒子間の配列等の情報が含まれており、 測定で得られた情報をいくつかの条件で固定することにより、 知りたい構造パラメーターをシミュレーションフィッティングによって 測定結果を求めることができます。

例: 希薄な単分散系で、粒子がほぼ球形と仮定できる試料なら、 ⇒粒径のみをパラメーターとしてフィッティングを行い、 良好に粒子径分布を得ることができます。

SAXS パターンと TEM 像との比較
SAXS パターンと TEM 像との比較

特徴

システム例

システム例
X線回析装置 SmartLab + USAXS アタッチメント(リガク社製)

Bonse-Hart 光学系により、短い光学系で高精度を実現しています。

ナノ粒子測定例

ナノ粒子測定例
フィッティングによる測定結果

1000 nm 径 SiO2 粒子 2wt% conc.

フィッティングにより、D=1018±1.14 nmという良好な結果が得られました。