極低温放射計によるX線自由電子レーザ計測技術
 更新 2011/2/23

極端パルス・大強度のX線レーザ強度の絶対測定
X線による非線形過程の計測

産業技術総合研究所では極低温放射計の開発し、 放射光やSPring-8のSCSS試験加速器[1]の極紫外自由電子レーザー(EUV-FEL)の強度 の絶対測定が可能であることを実証してきた[2-5]。 この極低温放射計では、真空紫外から軟X線領域の光子の強度測定を主眼にしていた。 現在開発が進められているX線自由電子レーザー(X-FEL)の強度測定ができるよう、 検出部を改造し、その性能評価を行った。

極低温放射計
 受光部をCu(厚さ0.1 mm) から Au (厚さ1 mm)に改造
 測定可能な光子の最大エネルギー: 約10 keV から 約40 keV に拡大


図1 極低温放射計の全体図および検出部の拡大図


図2:放射計による放射光のパワーの測定例


参考文献
[1] T. Shintake et al., Nature Photon, 2, 555 (2008).
[2] M. Kato et al., AIP Conference Proceedings 879, 1129 (2007).
[3] M. Kato et al., Nucl. Instrum. Methods A 612, 209 (2009).
[4] N. Saito et al., Metrologia 47, 21 (2010).
[5] M. Kato et al., Metrologia 47, 518 (2010).

2010年度放射光学会年会より抜粋(2011年1月9日発表)