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当部門では、最先端の研究開発を支える多様な材料加工装置、精密測定機器、高度な解析装置等を保有しています。本ページ掲載装置類のご利用は、共同研究または技術コンサルティングにて承ります。各装置のinquiryよりお問い合わせください。
＊産総研で公開している共用施設・研究装置類については、産総研公式ウェブサイトをご参照ください。
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小型自動塗工装置
A4サイズまで塗工可能な卓上の自動塗工装置。バーやアプリケーターと併用。
inquiryメーカー名 コーテック株式会社 型番 AB3652/127 仕様 ●移動速度：1～150 ㎜/s
●吸引してワークを固定できる。 -
ライン型大面積紫外線照射装置
ライン状にUV-LEDを配置した紫外線照射装置。
inquiryメーカー名 シーシーエス株式会社 型番 HLDL-375X10U6-SP 仕様 ●UV照射長さ：30 cm
●最大ワークサイズ：30 cm × 50 ㎝
●照射レベル：3255 段階（最大 3550 mW/㎝2）
●搬送スピード、反復などをコントロール可能 -
卓上真空貼合機
真空で貼合できる装置。
inquiryメーカー名 常陽工学株式会社 型番 JE1212C-V 仕様 ●到達真空度：1 Pa
●最大プレス圧：1 kN
●最大ワーク：312 cm
●外部からのガスの導入可能（通常はN2ガス）
●貼合時のステージ移動は手動 -
スクラッチ試験機
基材と成膜の密着力(付着強度)をJIS R-3255に準拠したマイクロスクラッチ法で評価できる薄膜スクラッチ試験機
inquiryメーカー名 株式会社レスカ 型番 CSB-2000 仕様 ●印可荷重：1～1000 mN
●励振振幅：5、10、20、40、60、80、100 μm
●触診：ダイヤモンド（R25 μm） -
紫外可視近赤外分光測定装置
250～2500 nmまで測定可能な分光測定装置。透過測定ではサンプルの角度を振ることが可能。
inquiryメーカー名 日本分光株式会社 型番 V-770 仕様 ●測定波長：250 ～ 2500 nm
●反射測定：10°
●外部光を完全遮光して測定可 -
ヘーズメーター
ガラス、プラスチックなどの透明材料の曇り度（ヘーズ）や全光線透過率・拡散透過率・平行透過率を測定できる装置
inquiryメーカー名 日本電色工業株式会社 型番 NDH7000-Ⅱ 仕様 ●測定可能面積：A4サイズ
●各種工業規格のプラスチック製品試験方法（JIS K 7136・JIS K 7361・ASTM D 1003・ISO 13468・ISO 14782）準拠 -
分光色彩計
固体・液体・粉体・ペレット・フィルムなどの反射率・透過率を5 nm間隔で測定できる高精度分光色彩計
inquiryメーカー名 日本電色工業株式会社 型番 SD3000型 仕様 ●測定波長：380 ～ 780 nm
●出力波長間隔：5 nm
●正反射を含む（SCI）、正反射を除く（SCE）測定可（同時測定も可） -
ナノ表面分析装置（AFM、IR、熱分析）
チューナブルパルスレーザー光源と原子間力顕微鏡（AFM）、サーマルプローブの組合せによりナノスケール空間分解能を有する赤外分光分析およびナノサーマルアナリシスを可能にする分析装置
inquiryメーカー名 ブルカー/アナシスインスツルメント社 型番 nanoIR2 スペクトロスコピーシステム 仕様 【AFM 機能】
●測定モード：コンタクトモード、タッピングモード
●取得データ：高さイメージ、ディフレクションイメージ、フェーズイメージ、ラテラルフォースイメージ
【IR機能】
●測定モード：1点および多点ローカル測定（吸光スペクトル）（コンタクトモード）、IR イメージ（固定波数によるIRマッピング）
●測定波数：900 ～ 2000 cm-1、2235 ～ 3600 cm-1
【 nanoTA】
●測定モード：ローカル分析、ライン分析、転移温度マッピング
●測定温度：室温 ～ 350 ℃ -
ボンドテスター
回転ヘッドに3種類のセンサ（ロードセル）と、静止画・動画を記録可能なカメラを搭載したボンドテスター
inquiryメーカー名 XYZTEC社（オランダ） 型番 Sigma 仕様 ●圧縮せん断試験（Y方向移動）最大荷重：200 kgf
●引張せん断試験（Z方向移動）最大荷重：100、200 kgf -
白色干渉型レーザー変位計
寸法、段差、表面粗さを測定できる白色干渉型レーザー変位計
inquiryメーカー名 株式会社キーエンス 型番 Wl-001、Wl-010 仕様 ●測定範囲：
z：1.4 mm、xy：1 x 1 mm（WI-001）
z：1.4 mm、xy：10 x 10 mm（WI-010）
●最小検出エリア：
4 x 4 µm（WI-001）
40 x 40 µm（WI-010）
●繰り返し精度 0.1μm -
熱電特性の異方性評価装置
面内方向と面直方向の両方の熱電発電量を直接測定できる装置（当部門開発装置）
inquiryメーカー名 アドバンス理工株式会社 型番 ZEM-d（写真左）、TER-Portable（写真右） 仕様 --- -
2次元X線回折装置
大型2次元検出器を備えた多機能薄膜材料評価X線回折装置。基板上の結晶配向や10 nmオーダーまでの長距離秩序を分析できる。
inquiryメーカー名 Bruker 型番 D8 DISCOVER 仕様 ●測定モード：微小角入射広角Ｘ線散乱（GIWAXS）法、斜入射小角X線散乱法(GISAXS)法、微小角入射広角Ｘ線散乱（GIWAXS）法 -
光照射型電気物性測定装置
3方向（前面、側面、上面）に開閉できる遮光構造の試料室を備えた光照射型電気物性測定装置
inquiryメーカー名 分光計器株式会社 型番 SCD-250N 仕様 ●照射波長：300 ～ 1150 nm
●照射光有効エリア：20 mm x 20 mm
●試料室寸法：w 300 mm x d 350 mm x h 400 mm
●窒素ガスを流す金メッキ電極装備 -
シリコーンゴム3Dプリンター
UV硬化型液体積層造形方式（LAM方式）を用いたシリコーンゴム3Dプリンター
inquiryメーカー名 ホッティーポリマー株式会社 型番 シリコム SS-01 仕様 ●最大造型サイズ：W 140 mm x D 140 mm x H 80 mm
●積層ピッチ： 0.1 mm ～
●硬度：30°、40°、50°を選択可能
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光造形方式3Dプリンター
光造形（SLA）方式のデスクトップ3Dプリンター
inquiryメーカー名 Formlabs 型番 Form 3+（写真左）、Form Wash（中）、Form Cure（右） 仕様 ●最大造型サイズ：w 145 mm x d 145 mm x h 193 mm
●積層ピッチ：25 ～ 300 μm
●XY軸解像度：25 μm
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多機能型静動摩擦測定機
テーブル摺動型だけでなく測定部上下摺動型を備え、タック性（べた付性）測定や引張圧縮測定の可能な多機能型静動摩擦測定機。生体を模したテクスチャーを有する接触部材で触覚評価も可能
inquiryメーカー名 株式会社トリニティーラボ 型番 TL201Tt 仕様 ●摩擦抵抗力：～ 9.8 N
●垂直荷重：分銅合計 500 g
●垂直荷重感度：0.5 g以上
●測定速度：0.1 ～ 100 mm/s
●測定距離：1 ～ 70 mm可変 -
湿式メディアレス微粒化装置
カーボンナノチューブ分散も可能な卓上ラボ高圧分散機
inquiryメーカー名 吉田機械興業株式会社 型番 ナノヴェイタ NVC-ES008A-D10 仕様 ●最大処理圧力：200 MPa
●処理量：6 L/h
●最小処理量：6 ｍL
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粒子径分布測定装置
レーザ回折・散乱法による粒子径分布測定装置。極小容量循環器を備え、少量分散液の評価が可能
inquiryメーカー名 マイクロトラック・ベル 型番 MT3300EXII 仕様 ●光源：半導体レーザ（波長：780 nm）3本
●測定範囲：0.02 ～ 2000 μm
●必要試料量：0.05 ～ 2 g
●循環量：35 ～ 50 mL