| 分野 | 計測・分析 、 材料 、 表面処理 |
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| 有機材料診断 | 物理的 |
| 機器名 | 蛍光X線膜厚計 |
| 製造所名と形式 | 株式会社フィッシャー・インストルメンツ XDV-SDD |
| 装置の概要 | 極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体など） NiP膜の組成分析、厚さ測定 |
| 仕様・構成 | 測定可能元素：Al（13)～U(92) コリメーター数/サイズ：4種/φ0.1mm～φ3mm |
| 設置年度 | 2018（平成30）年度 |
| 担当窓口 | 山口県産業技術センター 技術相談・支援室 （0836-53-5053） |
| 料金 | 710円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 |  |
