分野 | 化学 、 計測・分析 、 材料 |
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有機材料診断 | 化学的 |
機器名 | 分析電子顕微鏡 |
製造所名と形式 | 日本電子 JSM-IT200(LA) |
装置の概要 | 電子線を利用した試料表面の拡大観察と、電子線照射時に試料から放出される特性X線を利用した試料の組成分析が可能な装置。 |
仕様・構成 | 分解能:高真空モード 3.0nm(30kV)、8.0nm(3kV)、15.0nm(1.0kV) :低真空モード 4.0nm(30kV BED) 加速電圧:0.5~30kV 最大試料寸法:150mm径×48mm高さ 表示倍率:×5~300,000(表示サイズ128mm×96mm) 検出可能元素:Be~U |
設置年度 | 2019(令和元)年度 |
担当窓口 | 島根県産業技術センター 浜田技術センター 無機材料・資源科 (0855-28-1266) |
料金 | 1,110円/時間 |
備考 | |
全体写真 | ![]() |