| 分野 | 化学 、 計測・分析 、 材料 |
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| 有機材料診断 | 化学的 、 環境・その他 |
| 機器名 | 走査電子顕微鏡 |
| 製造所名と形式 | （株）日立ハイテクノロジーズ S-3700N |
| 装置の概要 | 300mm径の試料を搭載可能な走査電子顕微鏡。観察可能範囲は試料ステージのXYR移動を併用して最大203mm径。二次電子像および反射電子像観察、元素分析を行える。 [用途] 材料表面の観察、微小部の元素分析 |
| 仕様・構成 | 二次電子分解能 3.Onm保証（高真空モード、30kV） 反射電子分解能 4.Onm保証（低真空モード、30kV） 加速電圧 0.5～30kV 分析可能元素 B～Am 最大試料寸法 300mm径 最大観察可能範囲 203mm（XYR併用） |
| 設置年度 | 2011(平成23)年度 |
| 担当窓口 | 岡山県工業技術センター （086-286-9600） |
| 料金 | 5,670円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 |  |
