| 分野 | 食品・バイオ |
|---|---|
| 有機材料診断 | 環境・その他 |
| 機器名 | 低真空電子顕微鏡 |
| 製造所名と形式 | （株）日立ハイテクノロジーズ S-3400N |
| 装置の概要 | 高真空下での2次電子像観察の他に、試料を冷却することにより食品などの含水試料をそのまま観察することが出来る（低真空：6～270Pa)。 [用途] 食品、微生物等の含水試料の表面観察 |
| 仕様・構成 | 二次電子像分解能：3.0nm保証 （高真空）（30kV）、10nm保証（高真空）（3kV） 反射電子像分解能：4.0nm保証（低真空モード）（30kV） 低真空二次電子検出器を装備 倍率：5～300,000倍 加速電圧：0.3～30kV チルトステージ(-20～+50℃) 低真空度設定：6～270Pa 試料サイズ：10mmφ程度 |
| 設置年度 | 2006(平成18)年度 |
| 担当窓口 | 岡山県工業技術センター （086-286-9600） |
| 料金 | 3,110円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 |  |
