| 分野 | 機械 、 計測・分析 |
|---|---|
| 有機材料診断 | 環境・その他 |
| 機器名 | 走査型白色干渉計 |
| 製造所名と形式 | AMETEK株式会社 nexview NX2 |
| 装置の概要 | 垂直走査低コヒーレンス干渉法を利用して，金属加工部品や工具などの表面の三次元高さ情報(表面粗さ，段差，溝幅，キズなど)を非接触で高精度に取得できる。また，電動ステージと連動させることによって，複数の測定結果をつなぎ合わせ，より広い領域の高さ情報を得ることも可能である。 |
| 仕様・構成 | （非接触式表面粗さ計） 垂直分解能：0.005nm 測定領域： 0.09×0.09 mm ～13.9×10.4 mm (対物レンズに依存) |
| 設置年度 | 2019(令和元)年度 |
| 担当窓口 | 岡山県工業技術センター （086-286-9600） |
| 料金 | 6,960円/時間 |
| 備考 | |
| 全体写真 |  |
