| 分野 | 計測・分析 、 材料 、 表面処理 |
|---|---|
| 有機材料診断 | 環境・その他 |
| 機器名 | 走査電子顕微鏡（SEM） |
| 製造所名と形式 | 日本電子（株） JSM-7200F |
| 装置の概要 | 細く絞った電子線を用いることで、試料表面の状態を観察することができる装置です。特に、凸凹のある試料を立体的に観察することが可能です。金属部品の破壊原因の究明（破面観察）やめっき層の厚さの確認などに活用できます。 |
| 仕様・構成 | 電子銃：電解放出形 分解能：1.0nm（加速電圧20kV） 1.6nm（加速電圧1kV） 倍率：10～1,000,000倍 試料室サイズ：直径150mm×高さ40mm 対物レンズ方式：アウトレンズ形 |
| 設置年度 | 2016(平成28)年度 |
| 担当窓口 | 広島市工業技術センター （082-242-4170） |
| 料金 | 2,150円/時間 |
| 備考 | （公財）JKA補助対象機器 |
| 全体写真 |  |
