| 分野 | 計測・分析 |
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| 有機材料診断 | 化学的 、 環境・その他 |
| 機器名 | ＦＥ式走査型電子顕微鏡 |
| 製造所名と形式 | 日本電子株式会社 JSM-7200F |
| 装置の概要 | 金属材料や樹脂材料などの微細形状観察と組成観察 |
| 仕様・構成 | 倍率：×10～×1,000,000 加速電圧：0.01～30 kV 最大試料寸法：φ100㎜×40㎜（ｔ）以内 分析可能元素：4Be～92U 検出器：UED,LED, RBED（2次電子像，反射電子像，合成像） その他機能：GB機能，Through The Lens機能，長焦点深度機能，自動フォーカス，自動非点収差調整，自動色調調整 |
| 設置年度 | 2018(平成30)年度 |
| 担当窓口 | 広島県立総合技術研究所 東部工業技術センター 技術支援部 (084-931-2402) ekcgijutsu@pref.hiroshima.lg.jp |
| 料金 | 3,500円/時間 |
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| 全体写真 |  |
